[实用新型]实现两种模式的MIPI模组测试系统有效
| 申请号: | 201420718970.0 | 申请日: | 2014-11-25 |
| 公开(公告)号: | CN204256325U | 公开(公告)日: | 2015-04-08 |
| 发明(设计)人: | 彭骞;邹峰;雷程程;陈凯;沈亚非 | 申请(专利权)人: | 武汉精测电子技术股份有限公司 |
| 主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
| 代理公司: | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人: | 黄行军;刘琳 |
| 地址: | 430070 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 实现 模式 mipi 模组 测试 系统 | ||
技术领域
本实用新型属于液晶模组的显示领域和测试技术领域,具体地指一种实现两种模式的MIPI模组测试系统。
背景技术
具有MIPI接口的显示屏广泛应用于现代的智能手机、平板等电子设备。在MIPI显示模组大规模的生产过程中,MIPI模组出厂前的配置测试是很重要的一个环节,需要使用到读取和设置MIPI模组内部寄存器的技术,来完成点屏测试、Vcom调节、MTP烧录等生产流程。桥接芯片在VIDEO模式或COMMAND模式下通过内部的转换机制将输入的信号发送至VIDEO模式或COMMAND模式的MIPI模组显示。VIDEO模式是指主机传输到液晶模组采用实时像素流,而且是以高速传输信号的模式,而COMMAND模式是指采用发送命令和数据到具有显示缓存的控制器的传输信号的模式。
现阶段MIPI模组测试系统仅适用于VIDEO模式的MIPI模组,对桥接芯片进行配置的方案是采用SPI通道和RGB数据通道两个独立通道分别传输参数配置数据和图像数据,然而,桥接芯片工作于COMMAND模式时,其用于传送配置参数的SPI接口处于关闭状态,因此目前的MIPI模组测试系统不能进行COMMAND模式MIPI模组的点屏测试。
发明内容
针对现有技术中的缺陷,本实用新型提出了能够完成VIDEO模式和COMMAND模式两种MIPI模组的点屏测试,并能够对COMMAND模式的MIPI模组进行Vcom调节、模组ID设置、MTP信息烧录等功能的实现两种模式的MIPI模组测试系统。
为实现上述目的,本实用新型所设计的一种实现两种模式MIPI信号的测试系统,其特殊之处在于,包括PG图像发生器、MCU和FPGA,所述PG图像发生器分别与MCU和FPGA连接,所述MCU与FPGA通过EBI接口连接,所述MCU与桥接芯片通过SPI接口连接,所述FPGA通过桥接芯片与MIPI模组连接,所述PG图像发生器用于根据MIPI模组的类型设置VIDEO模式或者COMMAND模式的寄存器配置参数和图像数据,并将VIDEO模式或者COMMAND模式的寄存器配置参数发送至MCU,将VIDEO模式或者COMMAND模式的图像数据发送至FPGA;所述MCU用于将VIDEO模式的寄存器配置参数转化为DCS指令并通过SPI接口发送至桥接芯片,将COMMAND模式的寄存器配置参数转化为DCS指令并通过EBI接口发送至FPGA;所述FPGA用于在将VIDEO模式的图像数据通过RGB接口发送至桥接芯片,将COMMAND模式的DCS指令与图像数据打包后发送至桥接芯片。
进一步地,所述FPGA包括VIDEO模式数据处理模块、图像接口电路、EBI模块、COMMAND模式数据处理模块和时序接口电路,所述VIDEO模式数据处理模块从PG图像发生器接收VIDEO模式的图像数据处理后发送至图像接口电路,所述图像接口电路将VIDEO模式的图像数据发送至桥接芯片,所述EBI模块将从MCU接收的COMMAND模式的DCS指令发送至时序接口电路,所述COMMAND模式数据处理模块从PG图像发生器接收COMMAND模式的图像数据处理后发送至时序接口电路,所述时序接口电路将COMMAND模式的DCS指令与图像数据打包后发送至桥接芯片。
更进一步地,所述FPGA通过GPIO接口设置桥接芯片的IFSEL引脚,电平为低时桥接芯片工作于VIDEO模式,电平为高时桥接芯片工作于COMMAND模式。
本实用新型的有益效果在于:
(1)能够实现VIDEO模式和COMMAND模式两种模式MIPI模组的点屏测试;
(2)针对COMMAND模式的MIPI模组,通过FPGA生成图像数据,MCU通过FPGA转发MIPI模组的寄存器配置参数,可以实现寄存器配置参数和图像数据在同一个通道进行发送,提高传输效率;
(3)多功能性:除了基本的点屏测试功能,本技术方案提供了COMMAND模式MIPI模组的Vcom调节、模组ID读取和保存、MTP数据编辑和烧录等多种测试功能,适应了MIPI生产过程中的多种需求。
附图说明
图1为本实用新型实现两种模式MIPI信号的测试系统的结构示意图。
图中:1.PG图像发生器,2.MCU,3.FPGA,3-1.VIDEO模式数据处理模块,3-2.图像接口电路,3-3.EBI模块,3-4.COMMAND模式数据处理模块,3-5.时序接口电路,4.桥接芯片,5.MIPI模组。
具体实施方式
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