[实用新型]全数字式小倍率瞄具物方角测试设备有效

专利信息
申请号: 201420672834.2 申请日: 2014-11-10
公开(公告)号: CN204165735U 公开(公告)日: 2015-02-18
发明(设计)人: 王劲松;石丽霞;李延风;呼丹 申请(专利权)人: 长春理工大学
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 长春市吉利专利事务所 22206 代理人: 李晓莉
地址: 130022 *** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 数字式 倍率 瞄具物方角 测试 设备
【说明书】:

技术领域

本实用新型属于光学测量领域,特别是涉及到小放大倍率白光与微光瞄准系统的物方角进行测量的测试设备。

背景技术

现有技术当中物方角测量广泛应用于测绘仪器检测及光学测量等领域。瞄具物方角泛指包括视准轴变化量、分辨率、装表精度、装表范围、视场等光学系统的物方空间角度参数,这些参数直接影响到瞄具的性能,因此,这些参数的检测对于瞄具是十分重要的,是使其能正常工作的基本保障。

目前,要实现这些参数的检测,通常需要多个仪器设备完成,例如专门测量视准轴变化量的零位仪、测量分辨率的平行光管、测量装表精度的经纬仪及测量装表范围和视场的视场仪等。即使现在已经研制出了可以同时测量多个参数的检测仪器,但由于被测参数的精度要求和对靶标图案要求的不同,这类仪器要根据被测参数更换分划板,这就很难保证高精度的检测。另外,物方角参数中,有的对检测仪器光学系统的分辨率要求高,如视准轴变化量、分辨率、装裱精度等,有的要求检测仪器光学系统具有大视场,而对于光学系统来讲大视场和高分辨率是互相矛盾的,也就是说,高分辨率的光学系统其视场不大,大视场的分辨率不高。因此,要在同一套仪器设备上实现物方角所有参数的检测是十分困难的。

综上所述,现有技术当中亟需要一种新的技术方案来解决此类问题。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题为:提供一种瞄具物方角多参数大视场高分辨率测量的检测仪。

全数字式小倍率瞄具物方角测试设备,其特征在于:包括方位平面反射镜、俯仰数字转台、俯仰平面反射镜、方位数字转台、平行光管主体、数字分划板组件、光学平台、X向数控平移台和Y向数控平移台,所述的方位平面反射镜安装于方位数字转台上,且方位平面反射镜和方位数字转台构成方位读数及视场扩展组件;所述的俯仰数字转台固定安装于X向数控平移台的上面;所述的俯仰平面反射镜安装于俯仰数字转台上,且俯仰数字转台和俯仰平面反射镜构成俯仰读数及视场扩展组件;所述的方位数字转台固定安装于X向数控平移台的上面;所述的数字分划板组件通过平行光管主体固定安装于光学平台的上面,且平行光管主体和数字分划板组件构成平行光管;所述的Y向数控平移台固定安装于光学平台的上面,且Y向数控平移台位于X向数控平移台的下面。

所述的方位平面反射镜、俯仰数字转台、俯仰平面反射镜、方位数字转台通过X向数控平移台和Y向数控平移台改变水平二维坐标位置。

所述的方位平面反射镜围绕方位数字转台的回转轴为轴产生旋转位移。

所述的俯仰平面反射镜围绕俯仰数字转台的回转轴为轴产生旋转位移。

所述的数字分划板组件由数字光处理器、有机发光二极管显示屏、硅上液晶器构成。

所述的光学平台安装有减振隔层。

通过上述设计方案本实用新型可以带来如下有益效果:本实用新型的数字分划板组件主要由高分辨率数字光处理(DLP)器件构成,此外还可以是有机发光二极管(OLED)显示屏或者是硅上液晶(LCOS)器件构成。可以在计算机控制下显示测量需要的分划图形,不用更换分划板的情况下,针对不同参数提供不同分划形式的图案,提高了灵活性的同时,避免了因更换分划板引入的重复安装误差,还节省了更换分划板的时间,极大地提高了检测效率。

本实用新型设备的通用性、灵活性、适用性很强,保证测试精度的同时,能够大大提高瞄具试验效率,降低人力及设备设施投入成本。

附图说明

以下结合附图和具体实施方式对本实用新型做进一步的说明:

图1是本实用新型的结构示意图。

图中1-方位平面反射镜、2-俯仰数字转台、3-俯仰平面反射镜、4-方位数字转台、5-平行光管主体、6-数字分划板组件、7-光学平台、8-X向数控平移台、9-Y向数控平移台。

具体实施方式

全数字式小倍率瞄具物方角测试设备主要组成包括:方位平面反射镜1、俯仰数字转台2、俯仰平面反射镜3、方位数字转台4、平行光管主体5、数字分划板组件6、光学平台7、X向数控平移台8和Y向数控平移台9(如附图1所示)。其中平行光管主体5和数字分划板组件6构成模拟无穷远目标的平行光管;方位数字转台4和方位平面反射镜1构成方位读数及视场扩展组件;俯仰数字转台2和俯仰平面反射镜3构成俯仰读数及视场扩展组件。

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