[实用新型]一种用于测量LED发光强度角度分布的实验装置有效
| 申请号： | 201420669646.4 | 申请日： | 2014-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN204178600U | 公开（公告）日： | 2015-02-25 |
| 发明（设计）人： | 裴世鑫;崔芬萍;徐林华 | 申请（专利权）人： | 南京信息工程大学 |
| 主分类号： | G09B23/00 | 分类号： | G09B23/00;G01J1/42 |
| 代理公司： | 南京汇盛专利商标事务所(普通合伙) 32238 | 代理人： | 张立荣;袁静 |
| 地址： | 210044 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测量 led 发光强度 角度 分布 实验 装置 | ||
1.一种用于测量LED发光强度角度分布的实验装置，其特征在于：所述实验装置由固定台、角度盘、转动组件、LED固定组件以及光电探测组件所组成，所述转动组件包括转轴，所述转轴的下端穿过角度盘与固定台的上端面相连，所述LED固定组件与转动组件的上端面相连，所述光电探测组件与转动组件的侧面相连。
2.根据权利要求1所述的测量LED发光强度角度分布的实验装置，其特征在于：所述转动组件包括转轴、转环、转环压台和螺丝，所述转环压台和转环内设空心腔，所述转环的侧壁设有与转环内空心腔相通的螺纹孔，所述转轴由下至上依次穿过转环和转环压台内的空心腔，螺丝旋进所述螺纹孔将转轴与转环锁定，所述转环压台通过螺丝与转轴固定；所述LED固定组件与转环压台的上端面相连。
3.根据权利要求2所述的测量LED发光强度角度分布的实验装置，其特征在于：所述转环与螺纹孔相对的一侧设有用于固定LED探测组件的定位台阶。
4.根据权利要求3所述的测量LED发光强度角度分布的实验装置，其特征在于：所述LED固定组件由L形支架和LED固定夹组成，所述LED固定夹与L形支架的垂直部相连，所述L形支架的底部与转环压台的上端面相连。
5.根据权利要求4所述的测量LED发光强度角度分布的实验装置，其特征在于：所述光电探测组件由一个带有刻度的导轨、与导轨相适配的滑块、光电探测器支架和光电探测器组成，所述滑块与导轨滑动连接，所述光电探测器支架是由垂直部和底部组成的L形支架，所述光电探测器的垂直部连接有光电探测器、底部与滑块相连，所述导轨的一端与定位台阶相连。
6.根据权利要求5所述的测量LED发光强度角度分布的实验装置，其特征在于：所述导轨为设有凹槽的长方体状，所述滑块为U形、且内侧壁设有与导轨凹槽相适配的凸块。
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