[实用新型]光学直针治具

说明书

技术领域

    本实用新型涉及一种治具，具体是一种光学直针治具。

背景技术

对于印刷电路板，其常采用的测试治具是一种以PCB板为模型而设计的、用于电性能通断测试的一种专用夹具，有单面治具、双面治具之分，治具具有针盘，针盘上的探针直接决定电性能测试的稳定性以及效率；在实际生产中，PCB板多为批量制造、批量测试，需要保证针盘上探针始终处于良好的状态，一旦探针出现故障、尤其是间歇性故障，将导致误测试而造成质量事故，往往需要将大批量的产品收回重新测试。对于传统结构的开短路测试治具，其探针与套筒均设于针板上，以人工将各套筒尾端用电线缠绕至牛角接头，而一套治具往往必须缠绕两三百条以上，如此大量的缠绕动作必然耗费极长的工时，相对制造成本必然相当高，而且由于更换探针难度过大而常常将整个针板废弃。

目前，现有的光学测试治具大多采用线针，国内产家无法做出，都是从台湾购买或者从日本进口，价格昂贵，同时且测试针向不同的方向倾斜一定角度，根据W=F*S*COSa，下面针点受力点大小不一，测试率相对较底，测试针易弯曲报废。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种光学直针治具，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种光学直针治具，包括底座、支架和垫板和针板，所述针板的材料为玻璃纤维；所述针板包括底针板、中间针板和顶针板，且中间针板厚度大于底针板和顶针板的厚度，相邻中间针板之间，中间针板与底针板之间，以及中间针板与顶针板之间均设有铜质连接件，所述针板内垂直贯穿设置一根直探针，所述直探针长30-40mm，且两端伸出针板表面0.3-0.6mm，所述直探针上部设有压扁部，且压扁部位于中间针板内，所述垫板上下表面设有绝缘层，且直探针下端与设置在垫板内的弹簧的上端连接，所述弹簧的下端连接漆包线，所述漆包线穿过绝缘层，并与设置在底座上的牛角盘连接。

作为本实用新型进一步的方案：所述针板内还设有铜柱，且铜柱两端通过分别螺丝固定底针板和顶针板。

作为本实用新型进一步的方案：所述铜柱与中间针板之间还设有铜套。

作为本实用新型进一步的方案：所述直探针长33-37mm，且两端伸出针板表面0.4-0.5mm。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本光学直针治具设计更科学合理，使用物料更少，更环保且更简便，相对与复合式治具，直探针无斜率且可以有效的控制直探针出针高度，垂直受力，直探针不易弯曲，针将作用力全传到漆包连线处，使接触点连接更好，测试率良提高，治具维修率底。

附图说明

图1为光学直针治具的结构示意图；

图中：1-底座、2-支架、3-绝缘层、4-垫板、5-弹簧、6-底针板、7-中间针板、8-铜质连接件、9-顶针板、10-直探针、11-压扁部、12-螺丝、13-铜柱、14-铜套、15-漆包线、16-牛角盘。

具体实施方式

下面结合具体实施方式对本专利的技术方案作进一步详细地说明。

请参阅图1，一种光学直针治具，包括底座1、支架2和垫板4和针板，所述针板包括底针板6、中间针板7和顶针板9，且中间针板7厚度大于底针板6和顶针板9的厚度，相邻中间针板7之间，中间针板7与底针板6之间，以及中间针板7与顶针板9之间均设有铜质连接件8，所述针板内垂直贯穿设置一根直探针10，所述直探针10长30-40mm，且两端伸出针板表面0.3-0.6mm，所述直探针10上部设有压扁部11，且压扁部11位于中间针板7内，进而可以控制直探针10高度，且使得直探针10不会掉针；所述垫板4上下表面设有绝缘层3，且直探针10下端与设置在垫板4内的弹簧5的上端连接，所述弹簧5的下端连接漆包线15，所述漆包线15穿过绝缘层3，并与设置在底座1上的牛角盘16连接。所述针板的材料为玻璃纤维，所述针板内还设有铜柱13，且铜柱13两端通过分别螺丝12固定底针板6和顶针板9，所述铜柱13与中间针板7之间还设有铜套13。

本光学直针治具设计更科学合理，使用物料更少，更环保且更简便，相对与复合式治具，直探针无斜率且可以有效的控制直探针出针高度，垂直受力，直探针不易弯曲，针将作用力全传到漆包连线处，使接触点连接更好，测试率良提高，治具维修率底。

上面对本专利的较佳实施方式作了详细说明，但是本专利并不限于上述实施方式，在本领域的普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本专利宗旨的前提下做出各种变化。