[实用新型]智能按键检测系统有效

专利信息
申请号: 201420656843.2 申请日: 2014-11-05
公开(公告)号: CN204256125U 公开(公告)日: 2015-04-08
发明(设计)人: 胡克飞 申请(专利权)人: 浙江杭一电器有限公司
主分类号: G01R31/327 分类号: G01R31/327
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 312000 浙江省绍兴市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 智能 按键 检测 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及检测系统领域,尤其涉及智能按键检测系统。

背景技术

    目前市面上,用于遥控板上的按键检测的方法都为人工一个个按键检测过去;遥控板上的按键很多,这样的工作方式效率太低,影响到产量及人力成本;且手工在测按键时会出现人为误差,影响检测结果。

发明内容

本发明的目的在于提供智能按键检测系统,其用智能检测的方式代替了纯手工一个个点位测试的方式,大大增加了按键检测的工作效率,节省了人力物力的成本。

为了达到上述目的,本发明的技术方案是:

智能按键检测系统,包括主MCU和从MCU,所述主MCU的I/O口和从MCU的I/O口双向通信连接,所述从MCU与I/O扩展IC端口通过线路连接,所述I/O扩展IC端口与模拟开关IC通过线路连接,所述模拟开关IC与测试夹具通过线路连接,所述测试夹具与主MCU通过线路连接。

所述测试夹具包括支架,所述支架与气缸相连,所述支架上安装有金属探针,所述金属探针分别与限位传感器、模拟开关IC相连,所述限位传感器、气缸均与主MCU相连。

智能按键检测系统的使用方法,包括如下步骤:1)在主MIC设置待检测按键的数量、按键按下的时间、两个按键按下的间隔时间并将信号发送给从MCU;2)从MCU接收由主MCU发送的待检测按键的数量、按键按下的时间、两个按键按下的间隔时间信号,控制I/O扩展IC以一个I/O口控制多个模拟开关IC(4);同时,主MCU控制气缸,使夹具上的金属探针去接触待测按键;3)模拟开关IC的输出端控制金属探针的通电开关,金属探针接触被检测按键的按键点位,通过限位传感器触发主MCU,进行检测,当主MCU上的绿灯亮时,按键点位无故障;当红灯亮时按键点位存在故障。

本发明的有益效果是:本发明其用智能检测的方式代替了纯手工一个个点位测试的方式,大大增加了按键检测的工作效率,节省了人力物力的成本。

附图说明

图1为本发明的结构示意图。

具体实施方式

实施例1

如图1所示的智能按键检测系统,包括主MCU1和从MCU2,所述主MCU1的I/O口和从MCU2的I/O口双向通信连接,所述从MCU与I/O扩展IC端口3通过线路连接,所述I/O扩展IC端口3与模拟开关IC4通过线路连接,所述模拟开关IC4与测试夹具5通过线路连接,所述测试夹具5与主MCU1通过线路连接;所述测试夹具包括支架6,所述支架6与气缸7相连,所述支架6上安装有金属探针8,所述金属探针8分别与限位传感器9、模拟开关IC4相连,所述限位传感器8、气缸7均与主MCU1相连。

智能按键检测系统的使用方法,包括如下步骤:1)在主MIC1设置待检测按键10的数量、按键按下的时间、两个按键按下的间隔时间并将信号发送给从MCU2;2)从MCU2接收由主MCU1发送的待检测按键10的数量、按键按下的时间、两个按键按下的间隔时间信号,控制I/O扩展IC以一个I/O口控制多个模拟开关IC4;同时,主MCU1控制气缸7,使夹具5上的金属探针8去接触待测按键10;3)模拟开关IC4的输出端控制金属探针8的通电开关,金属探针8接触被检测按键10的按键点位,通过限位传感器9触发主MCU1,进行检测,当主MCU1上的绿灯亮时,按键点位无故障;当红灯亮时按键点位存在故障。

本实施例的智能按键检测系统,其用智能检测的方式代替了纯手工一个个点位测试的方式,大大增加了按键检测的工作效率,节省了人力物力的成本。

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