[实用新型]半导体元件测试站

说明书

技术领域

本实用新型涉及半导体元件生产领域，具体为一种半导体元件测试站。

背景技术

现有技术中的半导体元件测试站包括底座，底座上固定有竖板，竖板上固定有测试横板，测试横板上固定有测试座调节台，测试座调节台上固定有测试座；工作时，旋转盘上的吸嘴吸住半导体元件下行碰到测试座开始测试，但现有测试座的高度一定，而吸嘴的下行距离不定，导致吸嘴下行过程中撞击测试座，导致半导体元件的损坏。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种测试座高度能够根据吸嘴下行压力的变化而变化的半导体元件测试站。

实现上述目的的技术方案是：半导体元件测试站，包括底座、调节竖板、直板、测试横板、测试座调节台和测试座，所述直板通过固定座固定在底座上，调节竖板安装在直板上，测试横板设置在调节竖板上方，测试座调节台固定在测试横板上，测试座安装在测试座调节台上，其特征在于：所述调节竖板上安装有气缸，气缸的输出端固定有连接板，所述连接板与测试横板固定，通过气缸输出端的连接板带动测试横板上下位移。

本实用新型的调节竖板上安装有气缸，气缸的输出端通过连接板连接测试横板，测试时，先要调整好气缸的气压，气缸上顶测试横板，带动测试横板上的测试座上行，同时旋转盘上的吸嘴将吸住半导体元件下行到测试座上开始测试，若吸嘴下压测试座的压力大于气缸上顶作用力时，气缸自动缩回，避免了半导体元件的损坏，提高了经济效益。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

如图1所示，本实用新型包括底座1、调节竖板4、直板3、测试横板5、测试座调节台6和测试座7。

直板3通过固定座2固定在底座1上，调节竖板4安装在直板3上，测试横板5设置在调节竖板4上方，测试座调节台6固定在测试横板5上，测试座7安装在测试座调节台6上，调节竖板4上安装有气缸9，气缸9的输出端固定有连接板8，连接板8与测试横板5固定，通过气缸9输出端的连接板8带动测试横板5上下位移。