[实用新型]一种测量沉积物粒度的取样装置

权利要求书

1.一种测量沉积物粒度的取样装置，其特征是，包括支撑架（1），通过竖直转轴（24）可转动的设置在支撑架上的搅拌桶（2），用于驱动搅拌桶绕竖直转轴转动的旋转驱动装置及均化取样器，所述搅拌桶的上端开口，搅拌桶内壁上设有若干搅拌板（5）；

所述支撑架上、位于搅拌桶一侧设有竖直导杆（3），竖直导杆上可滑动的设有滑套（7），竖直导杆上、位于滑套下方设有第一限位凸块（6），且第一限位凸块位于搅拌桶上方；所述搅拌桶上方还设有竖直导套（11），且该竖直导套通过连接杆件（9）与滑套相连接；

所述均化取样器包括可取出的插设在竖直导套内的取样筒（20），设置在取样筒内壁下部的下环形限位块（21），设置在取样筒内壁上部的上环形限位块（17）及插设在取样筒内的操作杆（13），所述取样筒上端开口、下端封闭，取样筒外侧面上部、位于竖直导套上方设有第二限位凸块（14）；取样筒外侧面上、位于上环形限位块与下环形限位块之间设有若干自下而上等距分布的采样通孔（18），取样筒内、位于上环形限位块与下环形限位块之间设有若干自下而上等距分布的阀套（19），且各阀套与各采样通孔一一对应，所述操作杆的上端位于取样筒上方，操作杆的下端穿过各阀套，且各阀套与操作杆之间分别通过连杆相连接，各阀套外侧面上分别设有上、下两个密封圈（27）。

2.根据权利要求1所述的一种测量沉积物粒度的取样装置，其特征是，各阀套可沿取样筒滑动，并且当最上方的阀套抵靠在上环形限位块上时，各采样通孔位于对应阀套上的上、下两个密封圈之间；当最下方的阀套抵靠在下环形限位块上时，各采样通孔位于对应阀套上的上、下两个密封圈的上方。

3.根据权利要求1所述的一种测量沉积物粒度的取样装置，其特征是，所述操作杆上、位于上环形限位块上方设有第三环形挡块（15），并且操作杆上、位于上环形限位块与第三环形挡块之间套设有压缩弹簧（16）。

4.根据权利要求1或2或3所述的一种测量沉积物粒度的取样装置，其特征是，各搅拌板竖直设置，各搅拌板绕竖直转轴周向均布，且搅拌板沿竖直转轴径向延伸，各搅拌板上设有若干搅流通孔（4）。

5.根据权利要求1或2或3所述的一种测量沉积物粒度的取样装置，其特征是，所述搅拌桶的上端设有上盖（10），上盖中部设有与竖直转轴同轴的避让通孔；所述竖直导杆上、位于第一限位凸块上方设有竖直限位滑槽，所述滑套内侧面上设有与竖直限位滑槽相匹配的限位滑块，所述竖直导套与竖直转轴同轴设置，所述取样筒的下端穿过避让通孔，并靠近搅拌桶底部。

6.根据权利要求1或2或3所述的一种测量沉积物粒度的取样装置，其特征是，所述取样筒的下端设有取液通孔，且该取液通孔处设有可拆卸的密封端盖。

7.根据权利要求1或2或3所述的一种测量沉积物粒度的取样装置，其特征是，所述操作杆的上端设有握持杆，该握持杆与操作杆相垂直。

8.根据权利要求1或2或3所述的一种测量沉积物粒度的取样装置，其特征是，所述旋转驱动装置包括安装在支撑架上的电机及连接竖直转轴与电机输出轴的齿轮传动机构。