[实用新型]一种新型双栅极沟槽MOS单元有效
申请号: | 201420585804.8 | 申请日: | 2014-10-11 |
公开(公告)号: | CN204088328U | 公开(公告)日: | 2015-01-07 |
发明(设计)人: | 王金 | 申请(专利权)人: | 王金 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/51 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 新型 栅极 沟槽 mos 单元 | ||
1.一种新型双栅极沟槽MOS单元,其包括第一栅极及其第一栅极绝缘层,其特征在于,所述第一栅极绝缘层为氮化硅层。
2.根据权利要求1所述双栅极沟槽MOS单元,其特征在于,所述氮化硅层淀积在第一栅极氧化层上。
3.根据权利要求2所述双栅极沟槽MOS单元,其特征在于,所述氮化硅层包裹设置所述第一栅极。
4.根据权利要求3所述双栅极沟槽MOS单元,其特征在于,所述第一栅极与第二栅极之间设置栅极间绝缘氧化层。
5.根据权利要求4所述双栅极沟槽MOS单元,其特征在于,所述第一栅极小于所述第二栅极。
6.根据权利要求1所述双栅极沟槽MOS单元,其特征在于,所述第一栅极与第二栅极之间设置选择栅极、控制栅极。
7.根据权利要求1所述双栅极沟槽MOS单元,其特征在于,双栅极沟槽MOS单元还包括一个半导体静态随机存取存储器单元。
8.根据权利要求1所述双栅极沟槽MOS单元,其特征在于,双栅极沟槽MOS单元还包括极有源区、栅极有源区、以及漏极有源区。
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