[实用新型]一种用于产品检测的测试工装

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种检测装置，特别涉及一种用于产品检测的测试工装。

背景技术

随着科学技术水平的发展，集成电路芯片已经越来越广泛地被应用于电子产品的生产中。由于质量控制的需要，在完成芯片的批量生产后，需要对芯片的合格性进行检测，从而挑选出不合格的芯片，保留合格的芯片。在对芯片进行测试时，首先需要引出管脚。现有技术多是利用对每一个管脚进行点焊引出的方法来操作，一方面由于芯片的管脚过细，导致其非常费时费力，并容易出错；另一方面增加焊接次数增大了对芯片造成损伤的可能性，从而降低了芯片的焊接可靠性。鉴于上述情况，需要开发一种制作简单、方便测试、可靠性高的测试工装。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于产品检测的测试工装，使得其在用于测试产品时可简化操作，避免对产品可能造成的损伤。

为解决上述技术问题，本实用新型的实施方式提供了一种用于产品检测的测试工装，包含：一个罩体、引脚和引出线；罩体为框架结构，包含罩设于待测产品周围的呈封闭环状的罩壁以及与罩壁顶端相连的一个罩顶；引脚设于罩壁的底部，引脚与产品管脚的数量相等，且各引脚与待测产品上的各管脚一一对应；引出线的一端设于引脚上，另一端与测试仪器的探针相连，引出线与引脚的数量相等，且每条引出线与对应引脚电性连接。

本实用新型实施方式相对于现有技术而言，设置了一个框架结构的罩体，用于罩设在待测产品四周，包括罩壁和与之相连的罩顶。在罩壁的底端设有引脚，引脚的数量与产品管脚的数量相等且一一对应；每个引脚上焊接有相应的引出线，引出线的数量与引脚相等；形成了产品管脚、引脚与引出线之间相应的信号流通线路，使得在检测产品时，不再需要对产品的每一个管脚进行点焊引出，直接将引出线与测试仪器的探针连接，即可实现对相应产品管脚的检测，方便快捷、且可靠性高。

进一步地，罩体为绝缘材料。将罩体设置为绝缘材料是为了保证引脚与产品管脚实现良好的连接，确保产品检测时信号能够在引脚与产品管脚之间顺畅地流通。

进一步地，罩体的形状与待测产品的形状相适配。由于产品的形状是多种多样的，因此将罩体的形状设计为与待测产品相适应的形状，可以更好地实现引脚与产品管脚的良好接触。

进一步地，罩体的高度大于或等于待测产品上最高元器件的高度。由于产品上焊接有多种不同元器件，各个元器件都具有一定高度，对产品进行检测，首先需要将产品包覆在罩体内，以实现引脚与待测产品相应管脚的贴合，因此在罩体将产品本体罩住时，需要罩体的高度要大于或等于待测产品上最高元器件的高度，以避免罩体不能与产品很好地贴合在一起，导致引脚与产品管脚不能形成电性连接。

进一步地，引脚为方形的金属薄片。利用金属薄片的导电性，实现引脚与产品管脚的电性连通，本实用新型的实施方式中，将金属薄片设置为方形形状，可以确保金属薄片与产品管脚的有效接触。

进一步地，每条引出线与对应的引脚焊接在一起。可克服现行点焊引出每个管脚的方法所存在的弊端，如费时费力、容易出错等，本实用新型的实施方式所提供的测试工装中，引出线与引脚通过焊接形成电性连接，从而确保进行产品检测时信号在引脚和引出线之间的顺畅流通。

进一步地，引脚上设有用于识别对应产品管脚的符号标记。在产品管脚与引脚对应相连时，可以通过引脚上的符号标记进行核准，防止出现错误，实现引脚与产品管脚的一一对应。

进一步地，引出线上设有用于识别对应引脚的符号标记。一方面可以用于核准引出线与相应引脚之间的对应关系，另一方面，在用于测试时，只需要将测试仪器的探针与对应符号的引出线连接，即可实现对产品上相应管脚的检测，使得用于产品检测的测试工装的制作更加简单、测试越来越方便且可靠性越来越高。

进一步地，引脚与产品的管脚在罩壁内形成电性连接，罩顶上设有与引出线数量相等的孔隙，引出线穿过孔隙，与测试仪器的探针相连。这样一方面可以节省空间，另一方面可以通过产品管脚、引脚和引出线的对应关系对相应产品管脚进行便捷的检测。

进一步地，引脚与产品的管脚在罩壁外形成电性连接，引出线沿着罩壁的外表面粘贴在罩顶上。引脚与待测产品管脚在罩壁外形成电性连接，使得对于引脚和对应产品管脚的核准变得更为方便，并且在利用该测试工装进行产品测试时，只需利用测试仪器的探针与罩顶上粘贴的引出线相连接，即可便捷地完成对于相应产品管脚的测试。

附图说明

图1是根据本实用新型第一实施方式的一种用于产品检测的测试工装的底部示意图；