[实用新型]液晶模组老化测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及液晶模组的测试技术领域，具体地指一种液晶模组老化测试系统。

背景技术

近年来由于消费者的消费意识提高，对于产品的品质要求也愈益严苛，使得液晶显示器面板的制造业者不仅要在产品设计上下工夫，更要在制造工艺上有所提升才能在如此竞争的市场上一争长短。对液晶显示器面板的制造者而言，产品的寿命周期一直是业者所关注的对象，老化测试(burn-in)提供给制造者一种制造工艺认证及提升产品可靠度的途径之一。经过老化测试过后的产品，不只可以确保产品的可靠度与寿命周期，更可使出厂的产品不会轻易故障。

由于液晶显示器面板很容易在用过一段不确定的时间后就会发生故障，因此老化检测为了解决这种缺陷而发展出来的一种检测方法。这种方法可以使可能有缺陷的产品在老化测试的过程中加速老化，并在测试过程中早早就被淘汰。

目前液晶模组老化大多数采用大型的并且结构复杂的液晶模组检测系统进行老化测试，该系统如图1所示，包括AC-DC(交流转直流)电源模块、连接座、牛角座、FPGA(Field－Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)、ARM处理器、三个DC-DC模块(电源开关模块)和三个MCU(Micro Control Unit，微控制单元)，这种结构存在以下缺陷：

(1)上述的液晶模组老化测试系统的结构较为复杂(其内部包含MCU、ARM、FPGA等芯片，涉及芯片较多，程序复杂，导致了现有装置成本较高)，采用多个芯片组以及大型的软件系统作为支持，此外其装置体积较大，功耗高，设备寿命短，导致液晶模组老化检测设备成本较高。

(2)现有的液晶模组老化测试系统由于其内部芯片较多，需加载多个芯片程序才能使用，且需要使用电脑搭配上层软件使用，操作步骤过于繁琐，导致用户体检不佳。

(3)现有装置由于内部有FPGA等核心信号处理芯片，故其使用环境受限制，无法在75度或更高的环境下使用。

实用新型内容

本实用新型的目的就是要提供一种液晶模组老化测试系统，该系统能够解决液晶模组原有的测试背景下，设备复杂，成本高，稳定性差，使用时对老化环境要求高，以及对操作步骤复杂等问题。

为实现此目的，本实用新型所设计的液晶模组老化测试系统，其特征在于：它包括降压型开关电源、液晶模组通用输入输出端口电源模块、液晶模组屏幕主供电电源模块、液晶模组背光主供电电源模块、第一拨码开关、第二拨码开关、第三拨码开关、第一牛角座、第二牛角座、第一连接座和第二连接座，其中，所述降压型开关电源的供电信号输出端分别连接液晶模组通用输入输出端口电源模块、液晶模组屏幕主供电电源模块和液晶模组背光主供电电源模块的信号输入端，所述第一拨码开关的控制信号输出端连接液晶模组通用输入输出端口电源模块的控制信号输入端；

所述第二拨码开关的控制信号输出端连接液晶模组屏幕主供电电源模块的控制信号输入端；

所述第三拨码开关的控制信号输出端连接液晶模组背光主供电电源模块的控制信号输入端；

所述液晶模组通用输入输出端口电源模块的信号输出端分别连接第一牛角座的第一信号输入接口和第二牛角座的第一信号输入接口；

所述液晶模组屏幕主供电电源模块的信号输出端分别连接第一牛角座的第二信号输入接口和第二牛角座的第二信号输入接口；

所述液晶模组背光主供电电源模块的信号输出端分别连接第一连接座和第二连接座的信号输入端。

本实用新型的有益效果：

1、本实用新型中有两个牛角和两个连接座可以接两个液晶模组同时做老化实验，提升了批量液晶模组老化测试的效率：解决了目前批量液晶模组测试方法中，搭建测试环境需耗费较多时间与人力，测试环境稳定性差，使用步骤繁琐等问题。

2、本实用新型的装置取消了原有的MCU、ARM、FPGA等芯片，使得结构明显简化，显著降低了老化试验成本，同时保证了测试效率与测试质量。

3、本实用新型通过在第一牛角座、第二牛角座、第一连接座和第二连接座输出端设置转接线的方式，使得本实用新型能对非标准定义接口的液晶模组进行老化测试，实现更多各类的液晶模组老化测试。

4、由于本实用新型中取消了原有的MCU、ARM、FPGA等芯片，使得本实用新型的使用环境限制大幅降低，可以在75度或更高的环境下进行相关老化试验。

附图说明

图1为现有液晶模组检测系统的结构框图；

图2为本实用新型的结构框图；