[实用新型]一种pogo pin单动测试探针

说明书

技术领域

    本实用新型涉及电子测试领域，尤其涉及一种pogo pin测试夹具上使用的单动测试探针。

背景技术

pogo pin（探针式连接器）是一种应用于手机等电子产品中的精密连接器，广泛应用于半导体设备中，起连接作用。

目前，现有技术中对电子产品元器件的测试主要分为两种。第一种是采用两端分别焊有公、母Connector的FPC，通过人工手动将FPC与待测产品扣取连接，进一步连接测试设备进行检测。这种测试方式需要投入大量的人力、物力，测试时Connector的扣取使用寿命比较低，更换率高，测试良率低，导致待测产品上的Connector报废率升高，同时FPC上有一端Connector不良就需要更换整条FPC，这样造成物力过渡浪费。

另一种方案是行业中最新出现的探针测试，即pogo pin测试夹具，采用pogo pin探针与待测产品按压接触，将待测产品信号引至测试设备进行检测，采用这种方案避免了第一种方案中的浪费和损耗，降低了成本，同时提高了测试准确率。但由于待测产品的结构精细，对于引脚中心距在0.4mm或以下时，只能使用针套直径约为0.2mm，活动针头直径约为0.1mm大小的探针，造成测试探针的使用寿命短、损耗大、易折弯和断裂的问题，从而导致测试效率低、维护投入大，不能满足现有的生产需求。

实用新型内容

针对上述现有技术的不足，本实用新型的目的是提供一种pogo pin单动测试探针，克服测试探针使用寿命短、损耗大、活动针头直径较小容易折弯和断裂的问题。

为实现上述目的，本实用新型所采用的技术方案是：

一种pogo pin单动测试探针，包括针套、探针头及弹性件，所述针套为一体成型的实心长条形结构，包括针套头和针管，所述针管末端设有容置腔用于接收弹性件及探针头，所述探针头一端穿插针套与弹性件连接，另一端对应与转接PCB板连接，针套头对应与待测产品连接。

进一步，一种pogo pin单动测试探针，所述针套头的截面尺寸小于针管的截面尺寸，针管末端设有容置腔。

进一步的，一种pogo pin单动测试探针，所述容置腔的长度不超过针管长度的三分之一。

进一步，一种pogo pin单动测试探针，所述容置腔形成容置空间，其腔体外壁向内挤压成凸部，用于弹性件及探针头的限位。

进一步，一种pogo pin单动测试探针，所述探针头置于容置腔的一端设有凸台。

进一步，一种pogo pin单动测试探针，所述弹性件为金属弹簧，设于针管与探针头之间。

更进一步，一种pogo pin单动测试探针，所述探针头在沿其轴向的推力作用下可使所述弹性件收缩，从而令探针的长度缩短。

更进一步，一种pogo pin单动测试探针，所述针套头末端设有爪型锥尖用于与待测产品接触。

本实用新型的增益效果在于，提供一种pogo pin单动测试探针，采用针套头和针管为一体成型的实心结构，以及针套头与待测产品接触的独特连接方式，替代现有探针的活动探针头的接触方式，具有更强的抗折弯和抗断裂强度，降低pogo pin测试探针的损耗率，提高了探针检测的使用寿命和测试效率。

附图说明

图1为本实用新型一种pogo pin单动测试探针的结构爆炸图。

图2为本实用新型一种pogo pin单动测试探针的剖视图。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。