[实用新型]具有光线补偿装置的压痕应力测试仪有效

专利信息
申请号: 201420538148.6 申请日: 2014-09-18
公开(公告)号: CN204128886U 公开(公告)日: 2015-01-28
发明(设计)人: 卞宏友;范钦春;赵翔鹏;杨光;钦兰云 申请(专利权)人: 沈阳航空航天大学
主分类号: G01N3/02 分类号: G01N3/02
代理公司: 沈阳火炬专利事务所(普通合伙) 21228 代理人: 王欣
地址: 110136 辽宁省沈*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 具有 光线 补偿 装置 压痕 应力 测试仪
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种压痕应力测试仪,具体讲是涉及一种具有光线补偿装置的压痕应力测试仪,其属于铸造、锻造、焊接及激光沉积成形等加工领域。

背景技术

各种机械工艺如铸造、切削、焊接、热处理、装配等都会使工件内部出现不同程度的残余应力。残余应力的存在会使工件的强度降低,导致日后加工过程中产生变形、开裂等工艺问题;同时加工后的工件在自然条件下应力释放的过程中,会使工件的尺寸发生变化或者使其疲劳强度、应力腐蚀等力学性能降低。从而残余应力的测量成为人们关注的焦点。

目前,已知的残余应力测量方法分为破坏性和非破坏性两类。破坏性残余应力测量方法的精度与灵敏度比较高,但被测工件必将受到不同程度的破坏,使其在实际应用中受到很大限制。因此,近年来非破坏性残余应力测量法成为人们努力研究、改进的课题。冲击压痕法测应力由于具有物理背景清晰、相关理论成熟、测试结果与盲孔法测应力结果相近的优点,因此利用压痕法测试残余应力的应用研究正在积极展开,显示了发展为简便有效的残余应力测试方法的前景。

压痕应力测试仪在应力测试前需采用透镜对应变花标定的压力施加点进行对焦处理,因此良好的光照条件是对对焦过程的有效保障。由于该仪器自身并不携带光源,导致在光线较弱状态下进行残余应力测量时存在诸多不便。

发明内容

鉴于现有技术存在的问题,本实用新型的目的是要提供一种具有光线补偿装置的压痕应力测试仪,其针对压痕应力测试仪存在着在光线较弱区域无法对焦的缺陷,增设光线补偿,实现压痕应力测试仪在光线较弱的情况下有效测量被测工件的残余应力,拓展了压痕应力测试仪的使用空间。

为了实现上述目的,本实用新型所采用的技术方案为具有光线补偿装置的压痕应力测试仪;其包括:支架和固定在支架上的底座;所述底座为具有通孔的圆柱;底座通孔内套装有支撑架,支撑架上固定有对焦装置,所述对焦装置由物镜和目镜构成;其特征在于:其还包括光线补偿装置,光线补偿装置固定于底座上;所述光线补偿装置包括光源和圆环板面,光源固定于圆环板面上,所述物镜穿过圆环板面的圆环,即物镜的外径小于圆环板面的内径。

所述光源为LED灯,其为6个,均匀设置于圆环板面上,圆环板面内部为无影区。

所述光线补偿装置采用稳定电源,其电源与光源之间串联有电位器。

本实用新型的优点如下:

1)采用无影灯作为对焦过程中的光源,可以避免由于物镜移动过程中遮挡光源影响对焦的现象;

2)针对不同的光线环境,可以通过调节电源电压改变无影灯的光照强度,从而满足不同人对对焦过程中光照强度的要求;

3)该装置成本较低,制作简单,可以批量生产,拓展了该型压痕应力测试仪的使用空间。

附图说明

图1光线补偿装置的的结构示意图;

图2本实用新型的主视图;

图3为底座与光线补偿装置的位置关系图;

图4光线补偿装置的电源调压电路图;

图中:1、光源,2、圆环板面,3、支架,4、底座,5、支撑架,6、物镜,7、目镜,8、输入电压,9、电位器,10、电阻,11、输出电压。

具体实施方式

为了进一步了解该具有光线补偿装置的压痕应力测试仪,下面结合附图说明如下。

其包括:支架3和固定在支架上的底座4;所述底座为具有通孔的圆柱;底座通孔内套装有支撑架5,支撑架上固定有对焦装置,所述对焦装置由物镜6和目镜7构成;所述物镜穿过圆环板面2的圆环,即物镜的外径小于圆环板面的内径,圆环板面2固定于底座4下方,圆环板面上均匀分别有6个LED灯,此时圆环内部将形成一个无影区;当物镜在圆环内移动时,在目镜下方都不会出现阴影区,影响对焦过程;6个LED灯的正、负极采用2根导线统一连接,引出接线端子;接线端子与电源的电压输出端相连接,电源的电压输出端和电源的电源输入端之间串联有电位器和电阻;电源的电压输入端采用稳压电源供电或是电池供电,根据所选LED灯的工作电压选择稳压电源或电池的电压,并且通过调节电位器即可达到改变LED灯光照强度的目的。

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