[实用新型]集成运放芯片快速检测器

说明书

技术领域

集成运放芯片检测

背景技术

集成运放芯片快速检测器是一台电子技术实验中的检测装置，能够快速地检测出集成运放芯片的好坏，解决了传统方法检测集成运放芯片速度慢、过程繁琐的弊端，适用于高等院校的电子技术实验教学工作。该装置由信号产生电路、信号分配转换开关电路、基准信号设定电路、比较运算电路、输出判定指示电路和半桥电路构成。

发明内容

集成运放芯片快速检测器，可在实验教学过程中快速地检测集成运放芯片的好坏。该装置对被测集成运放芯片的管脚信号进行采集，通过分配转换开关对输入电压，分别进行上偏信号输入给定、中点信号输入给定和下偏信号输入给定。基准信号设定固定值，根据基准信号设定的标准，对输入信号进行比较运算，最后由红光发光二极管、绿光发光二极管的亮、灭作为判断标志。当分配转换开关处于上偏信号给定时，红光发光二极管同时点亮；当分配转换开关处于下偏信号给定时，绿光发光二极管同时点亮；当中点信号给定时，红光发光二极管、绿光发光二极管均灭，说明被测集成运放芯片完好，没有损坏。

本发明解决方案是：

集成运放芯片快速检测器，由信号产生电路、信号分配转换开关电路、基准信号设定电路、比较运算电路、输出判定指示电路和半桥电路组成，信号产生电路由上偏给定信号电路、下偏给定信号电路和中点给定信号电路组成。

其特征是：

上偏给定信号给定电路，由电阻R₁、R₂串联分压产生的上偏信号，连接分配转换开关K_1-1的输入端。

下偏给定信号给定电路，由电阻R₃、R₄串联分压产生的下偏信号，连接分配转换开关K_1-3的输入端。

中点给定信号给定电路，由电阻R₅、R₆和电位器Rw串联分压产生的中点信号，连接分配转换开关K_1-2的输入端。分配转换开关的输出端K_1-0，分别连接比较运算放大器IC_1-1、IC_1-2、IC_1-3和IC_1-4的同相输入端。

基准信号设定电路，由电阻R₇、R₈分压产生基准信号，连接比较运算放大器IC_1-1、IC_1-2、IC_1-3、IC_1-4的反相输入端。

输出判定指示电路，由半桥电路的动态桥臂，比较运算放大器IC_1-1的输出端，连接红光发光二极管LED₁的正端和绿光发光二极管LED₂的负端，比较运算放大器IC_1-2的输出端，连接红光发光二极管LED₃的正端和绿光发光二极管LED₄的负端，比较运算放大器IC_1-3的输出端，连接红光发光二极管LED₅的正端和绿光发光二极管LED₆的负端，比较运算放大器IC_1-4的输出端，连接红光发光二极管LED₇的正端和绿光发光二极管LED₈的负端。

半桥电路的固态桥臂，由电源电压经电容器C₁、C₂分压后，经电阻R₁₀连接红光发光二极管LED₁的负端和绿光发光二极管LED₂的正端；经电阻R₁₂连接红光发光二极管LED₃的负端和绿光发光二极管LED₄的正端；经电阻R₁₄连接红光发光二极管LED₅的负端和绿光发光二极管LED₆的正端；经电阻R₁₆连接红光发光二极管LED₇的负端和绿光发光二极管LED₈的正端。