[实用新型]一种电阻测量装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及电阻测量领域，特别涉及一种低电阻精密测量装置。 

背景技术

在电学领域，直流电阻的测量应用极其广泛，电阻测量范围在10^-6～10¹²欧姆，甚至更大；测量对象可以是额定值为十进制的电阻，也可以是非十进制的电阻；此外，测量可以在大电流被测电阻消耗上百瓦的功率下进行，也可以在小电流微功耗下进行，也可以在高压下进行。这些不同的状态决定了直流电阻测量方法和测量线路的多样化。 

当前，电阻精密测量主要采用经典的开尔文四线电阻测量原理。这个原理大规模应用于各类数字微欧计，直流低电阻测试仪，数字电桥以及线缆测试仪中。虽然都采用了开尔文四线电阻测量原理，但是针对不同的测量方法，其测量准确度也会存在很大的差异。采用不同的测量方法，其测量中的热电势、接触电阻以及噪声对测量结果的影响是不相同的。在低电阻的测量中，热电势、接触电阻和噪声对阻值测量的精度的影响是很大的。 

实用新型内容

本实用新型解决的问题是现有电阻测量装置测量精度受热电势、接触电阻和噪声影响大；为解决所述问题，本实用新型提供一种电阻测量装置。 

本实用新型提供的电阻测试装置包括：计算机、电流源、纳伏表；所述计算机与电流源和纳伏表分别连接；所述纳伏表与被测件组成回路；所述电流源与被测件组成回路。 

进一步，所述计算机与电流源通过GPIB接口卡和LAN总线连接。 

进一步，所述计算机与纳伏表通过GPIB接口卡和RS232总线连接。 

进一步，所述电流源和纳伏表由2600-TLINK 连接。 

进一步，所述电流源采用2651A型精密电流源。 

进一步，所述纳伏表采用2182A型纳伏表。 

本实用新型所提供的低电阻精密测量装置，能够有效消除低电阻测量中热电势、接触电阻和噪声对精密测量结果的影响，最大程度地减少了测试时间，降低了产生误差的几率，具有测量准确度高，测试速度快以及噪声低等优点。 

附图说明

图1是本实用新型所提供的电阻测量装置的结果示意图。 

具体实施方式

下文中，结合附图和实施例对本实用新型作进一步阐述。 

申请人研究了低电阻测试中引线电阻、非欧姆接触以及器件加热问题，分析低电阻测量过程中主要存在的误差来源及特性，并针对不同的误差源的形成原因和特性，研究误差消除的技术方法案。 

申请人认为典型引线电阻的大小在10~100mΩ的范围内，当待测电阻低于10~100Ω时，采用四线(即开氏)连接方法更适合于低电阻测量，并使得探测引线上的电压降也可以忽略，因此用这种方法测得的电阻值更为精确。然而当电路不同部分处于不同的温度，以及当由不同材料组成的导体连接在一起时，就会产生热电电压即EMF。 

 如图1所示，本实用新型提供的电阻测试装置包括：计算机01、电流源02、纳伏表03；所述计算机01与电流源02和纳伏表03分别连接；所述纳伏表03与被测件04组成回路；所述电流源02与被测件04组成回路。

继续参考图1，在本实用新型的实用新型中，所述计算机01与电流源02通过GPIB接口卡和LAN总线05连接；所述计算机01与纳伏表03通过GPIB接口卡和RS232总线03连接。所述电流源02和纳伏表03由2600-TLINK 连接。所述电流源02采用2651A型精密电流源；所述纳伏表03采用2182A型纳伏表。 

本实用新型虽然已以较佳实施例公开如上，但其并不是用来限定本实用新型，任何本领域技术人员在不脱离本实用新型的精神和范围内，都可以利用上述揭示的方法和技术内容对本实用新型技术方案做出可能的变动和修改，因此，凡是未脱离本实用新型技术方案的内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化及修饰，均属于本实用新型技术方案的保护范围。