[实用新型]致冷件抗折测试装置有效
| 申请号: | 201420534187.9 | 申请日: | 2014-09-18 |
| 公开(公告)号: | CN204064646U | 公开(公告)日: | 2014-12-31 |
| 发明(设计)人: | 陈磊;刘栓红;赵丽萍;钱俊有;张文涛;蔡水占;郭晶晶;张会超;陈永平 | 申请(专利权)人: | 河南鸿昌电子有限公司 |
| 主分类号: | G01M13/00 | 分类号: | G01M13/00 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 461500 河南省许昌*** | 国省代码: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 致冷 件抗折 测试 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及致冷件生产技术领域的测试设备,特别是涉及致冷件抗折测试装置。
背景技术
致冷件包括两个瓷板和焊接在两个瓷板中间的晶粒,随着致冷件应用范围的扩大和对致冷件更高的要求,需要致冷件具有较高的抗折性能,现有技术中,还没有专门的致冷件抗折检测装置。
发明内容
本实用新型的目的就是针对上述缺点,提供一种可以检验致冷件抗折性能的器具——致冷件抗折测试装置。
本实用新型的技术方案是这样实现的:致冷件抗折测试装置,其特征是:它包括一个底座,底座上有两个支撑块,支撑块是长条形的结构,在底座上、支撑块的两侧安装有立柱,连接立柱的是横梁,横梁中间是安装下压件的安装孔,还有下压件通过安装孔安装,下压件上有测力计。
进一步地讲,所述的两个支撑块可滑动的安装在底座上。
进一步地讲,对着下压件的底座上还有位移测试仪触头,位移测试仪触头连接位移测试仪。
进一步地讲,所述的底座上面周围设置有围栏。
本实用新型的有益效果是:这样的致冷件抗折测试装置可以检验致冷件抗折性能;所述的两个支撑块可滑动地安装在底座上,可以检测多种型号的致冷件;对着下压件的底座上还有位移测试仪触头,位移测试仪触头连接位移测试仪,在测试时还可以检测弯曲程度,检测结果更准确;所述的底座上面周围设置有围栏,在检测时防止破碎的瓷板飞出,伤害周围人员,使用更安全。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
其中:1、底座 2、支撑块 3、立柱 4、横梁 5、下压件 6、测力计 7、位移测试仪触头 8、位移测试仪 9、围栏。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步说明。
如图1所示,致冷件抗折测试装置,其特征是:它包括一个底座1,底座上有两个支撑块2,支撑块是长条形的结构,在底座上、支撑块的两侧安装有立柱3,连接立柱的是横梁4,横梁中间是安装下压件5的安装孔,还有下压件5通过安装孔安装,下压件5上有测力计6。
测试时,将半导体致冷件放置在两个支撑块中间,按压下压件,对致冷件施加压力,根据测力计的读数,即可知道致冷件的抗折程度。
进一步地讲,所述的两个支撑块可滑动的安装在底座上,即两个支撑块之间的距离可以调节,这样可以测试不同型号的致冷件。
进一步地讲,对着下压件的底座上还有位移测试仪触头7,位移测试仪触头连接位移测试仪8,这样在测试时还可以测试致冷件的位移,测试更全面。
进一步地讲,所述的底座上面周围设置有围栏9。
以上所述仅为本实用新型的具体实施例,但本实用新型的结构特征并不限于此,任何本领域的技术人员在本实用新型的领域内,所作的变化或修饰皆涵盖在本实用新型的专利范围内。
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