[实用新型]反射镜、反射镜组及反射式光谱仪有效

专利信息
申请号: 201420534127.7 申请日: 2014-09-17
公开(公告)号: CN204241715U 公开(公告)日: 2015-04-01
发明(设计)人: 张建邦;朱国强 申请(专利权)人: 大立光电股份有限公司
主分类号: G02B5/09 分类号: G02B5/09;G01J3/02
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 丁纪铁
地址: 中国台湾台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 反射 光谱仪
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及反射式量测仪器,特别是指反射式量测仪器中的反射镜,其是用以引导量测仪器光源的光路。

背景技术

传统的反射镜可用于许多量测仪器之中,主要是做为引导量测仪器的光路的功能。

普通用于反射式量测仪器中的反射镜,为了达到引导光路的功能,且又能撷取到欲量测样品上所反射的光线,通常会使用半反射镜的构造,请参阅图1及图2所示,其结构为一圆盘状的透明玻璃本体10,并于可分为外环部11及中心部12,该外环部11的表面涂布反射涂层13,该中心部12则为未配置反射涂层的透光区域。

然而,在量测反射光线时,因为反射镜为一透明平板玻璃,此平板具有两个与空气的介面,分别是玻璃材质的中心部12及具有反射涂层13的外环部11,在接收由量测样品反射的光线时,会造成二次或甚至第三次的反射,使得光线在穿透反射镜的中心部12的玻璃表面时,会产生额外的反射杂散光,这部分的杂散光会进入到最终的光谱仪模组,而影响到量测的结果,造成量测数据的偏差。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种反射镜结构,其主要目的是避免量测仪器的光线在经过反射镜的穿透面时产生额外的杂散光,藉此减少进入最后的光谱仪模组的杂散光,使量测数据更为准确。

为解决上述问题,本实用新型提供一种反射镜,具有一第一表面及一第二表面,该第二表面是与该第一表面相互平行,该反射镜的中心位置具有一中心轴,该反射镜主要包括:一中心透光区,环绕于该中心轴配置;一周边区,环绕该中心透光区,且该周边区包含一周边反射区及一周边透光区;以及一对称轴,该对称轴经过该中心透光区的中心位置;其中,该中心透光区为一孔洞,该周边区以该对称轴为轴而线对称,该周边透光区为中空,该周边反射区是位于该第一表面。

为解决上述问题,本实用新型提供一种反射镜组,由中心向外侧包含:一中心透光区,环绕一中心轴配置;以及一周边区,环绕该中心透光区,该周边区包括一第一反射 镜、一第二反射镜及一第三反射镜,其中,该第一反射镜、该第二反射镜及该第三反射镜是等距分布环绕于该中心轴;其中,该中心透光区为中空。

为解决上述问题,本实用新型提供一种反射式光谱仪,包含:一反射镜,具有一第一表面及一第二表面,该第二表面是与该第一表面相互平行,该反射镜的中心位置具有一中心轴,该反射镜主要包括:一中心透光区,环绕于该中心轴配置;一周边区,环绕该中心透光区,且该周边区包含一周边反射区及一周边透光区;以及一对称轴,该对称轴经过该中心透光区的中心位置;其中,该中心透光区为一孔洞,该周边区以该对称轴为轴而线对称,该周边透光区为中空,该周边反射区是位于该第一表面;另外,反射式光谱仪更包含一光源,发出一照明光至该反射镜后产生一第一反射光;一物镜,是设置于该第一反射光的路径上,并供该第一反射光通过;一量测平台,一待测物放置于该量测平台上,该量测平台位于该第一反射光的路径上,且该物镜是位于该反射镜及该量测平台间,该第一反射光照射到该待测物后,反射一第二反射光;该第二反射光是通过该物镜后,自该中心透光区及该周边透光区射出;以及一光谱仪,用以接收该第二反射光。

本实用新型利用所提供的反射镜、反射镜组及反射式光谱仪,可以获得的功效在于:藉由移除中心透光区以及周边透光区的玻璃介面,使反射镜中的中心透光区为孔洞,反射镜的周边透光区为中空,藉此避免光线于中心透光区以及周边透光区产生反射以减少反射杂散光的产生,使量测数据更为准确。

附图说明

图1是普通反射镜的正面视图。

图2是普通反射镜的侧面视图。

图3是本实用新型第一实施例的正面视图。

图4是本实用新型第一实施例的侧面视图。

图5是本实用新型第一实施例参数定义的正面视图。

图6是本实用新型第一实施例参数定义的侧面视图。

图7A是本实用新型第一实施例的正面视图。

图7B是本实用新型第二实施例的正面视图。

图7C是本实用新型第三实施例的正面视图。

图7D是本实用新型第四实施例的正面视图。

图7E是本实用新型第五实施例的正面视图。

图7F是本实用新型第六实施例的正面视图。

图7G是本实用新型第七实施例的正面视图。

图7H是本实用新型第八实施例的正面视图。

图8是本实用新型第九实施例的正面视图。

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