[实用新型]一种用于物镜成像系统的波像差高精度测量装置有效
申请号: | 201420518689.2 | 申请日: | 2014-09-10 |
公开(公告)号: | CN204165736U | 公开(公告)日: | 2015-02-18 |
发明(设计)人: | 卢云君;唐锋;王向朝 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 张泽纯;张宁展 |
地址: | 201800 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 物镜 成像 系统 波像差 高精度 测量 装置 | ||
1.一种用于物镜成像系统的波像差检测装置,其特征在于,包含:光源(1)、沿该光源发出光方向依次放置的准直镜(2)、分光镜(3)、聚焦镜(4)和标准球面反射镜(5),以及数据处理单元(9)、与该数据处理单元(9)分别连接的波前传感器(6)、第一精密调整台(7)和第二精密调整台(8);
所述的光源(1)发出的光经过所述的准直镜(2)成为平行光后入射到所述的分光镜(3),由分光镜(3)反射后经所述的聚焦镜(4)入射至所述的标准球面反射镜(5)后沿原路返回至分光镜(3),一部分光透过所述的分光镜(3)被所述的波前传感器(6)接收,最后由所述的数据处理单元(9)处理;
所述的第一精密调整台(7)具有五个调节自由度,用于调节待测物镜成像系统(10)的位置和方向,所述的第二精密调整台(8)具有三个调节自由度,用于调节所述的标准球面反射镜(5)的位置和方向。
2.根据权利要求1所述的用于物镜成像系统的波像差检测装置,其特征在于,所述待测物镜成像系统(10)是单个成像透镜或由多个光学器件组合的成像系统。
3.根据权利要求1所述的用于物镜成像系统的波像差检测装置,其特征在于,所述的波前传感器(6)是由微透镜阵列和CCD的组合式的哈特曼传感器,或者是基于剪切干涉原理的剪切干涉仪。
4.根据权利要求1所述的用于物镜成像系统的波像差检测装置,其特征在于,所述的波前传感器放置所述的分光镜的反射光一侧,且与其同光轴。
5.根据权利要求1所述的用于物镜成像系统的波像差检测装置,其特征在于,所述的标准球面反射镜(5)的面形误差要低于所述的波前传感器(6)的检测精度。
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