[实用新型]电子元件检测分选的搬送装置

说明书

技术领域

本实用新型有关于一种搬送装置，尤指一种在进行检测分选过程中对电子元件执行搬送的电子元件检测分选的搬送装置。

背景技术

一般电子元件由于具有不同的物理特性，故常需经由检测、分选的程序来进行包装或分类，由于电子元件的微细化及量大属性，用于作检测、分选的装置必须提供精密、迅速的搬送，此外，由于制程因素，同一电子元件的物理特性愈来愈多样化，因此分选的BIN数被要求须愈多，故检测、分选的装置成本将愈来愈高，基于此因素，将相近的不同电子元件作共通性的搬送，将可以减轻装置设备的制造成本。

以发光二极管(LED)的检测为例，一般以体型略呈方型的发光二极管(LED)中，其大致属于发光面在上方的上侧发光(Top view)类型，而其导电层在下方，故在检测时需在上方设检测单元及在下方设导电端子，其在搬送方式上常采用震动送料机配合周缘开有环列布设多个相间隔缺槽状而开口朝外容置空间的转盘，使震动送料机的输送槽道出口直接对应转盘旋转中心及容置空间的开口，而将待搬送的元件直接正向自输送槽道出口推送进入容置空间中，以藉由转盘作旋转搬送以进行检测，并检测后，依检测结果所呈现取得的物理特性数据，将元件以气压排出转盘，并以摆臂导引而选择性地移至多个排出管路之一，并排入收集盒被收集。

实用新型内容

然而，背景技术并未考虑到当发光二极管(LED)为长方型及侧面发光(Side view)的状况，此种侧面发光(Side view)的发光二极管，其发光面在侧边，而导电层在上方，故在检测时需在侧边设检测单元及在上方设导电端子，故当发光二极管(LED)为此种长方型及侧面发光(Side view)时，其在震动送料机的输送槽道中无法被以横设且垂直槽道输送方向的方式被输送，因此当长方型发光二极管被迫须以长侧边平行槽道输送方向的方式被从输送出口推出时，其自转盘容置空间开口进入时，该发光二极管侧面发光部位将被缺槽状容置空间的侧边所遮档，而无法在侧边设检测单元进行检测。

因此，本实用新型的目的，在于提供一种适用于进行上侧发光(Top view)及侧面发光(Side view)的发光二极管检测时，用以搬送待测元件的电子元件检测分选的搬送装置。

本实用新型另一目的在于提供一种适用于进行侧面发光(Side view)的发光二极管检测时，用以搬送待测元件的电子元件检测分选的搬送装置。

本实用新型又一目的在于提供一种适用于进行上侧发光(Top view)及侧面发光(Side view)的发光二极管检测时，用以搬送待测元件的电子元件检测分选的搬送装置。

依据本实用新型目的的电子元件检测分选的搬送装置，包括：一输送机构，以一输送槽道的输送路径，待测元件被输送槽道被从一输送口送出；一入料机构，将从输送口推出的待测元件进行移送；一转向机构，以一移载部承接入料机构所移送来的待测元件，并将移载部中的待测元件旋转一角度；一测盘，承接转向机构的移载部移出的待测元件，待测元件于测盘的容置空间中被定位、搬送。

依据本实用新型目的的另一电子元件检测分选的搬送装置，包括：一输送机构，设有一输送槽道，其以一输送路径使待测元件被输送槽道从一输送口送出；一入料机构，将从该输送机构的输送口推出的待测元件进行移送；一测盘，设有容置空间承接入料机构移送的待测元件，其于测盘的容置空间中被定位、搬送。

依据本实用新型目的的又一电子元件检测分选的搬送装置，包括：一输送槽道，待测元件以第一搬送路径从一输送口送出时维持一第一置设方向；一测盘，设有容置空间，待测元件在维持一第一置设方向下，被以垂直第一搬送路径方向的第二搬送路径被移送，而自一开口进入测盘的容置空间。

依据本实用新型目的的再一电子元件检测分选的搬送装置，包括：一输送槽道，待测元件以第一搬送路径从一输送口送出时维持一第一置设方向；一转向机构，使从该输送槽道的输送口送出的待测元件被转向而呈一第二置设方向；一测盘，设有容置空间以一开口承接自转向机构被以平行第一搬送路径方向的第二搬送路径移送来的待测元件。

依据本实用新型另一目的之电子元件检测分选的搬送装置，用以搬送侧面发光(Side view)的发光二极管待测元件，包括：

一输送槽道，设有一输送口，该待测元件被输送槽道输送而从一

输送口送出；一测盘，设有容置空间承接所述输送口送出的待测

元件，待测元件在容置空间中受负压所吸附，并以发光面背侧的侧边贴靠容置空间的底侧边定位下被测盘搬送。