[实用新型]一种温控组件热性能测试系统有效

专利信息
申请号: 201420484932.3 申请日: 2014-08-26
公开(公告)号: CN204044094U 公开(公告)日: 2014-12-24
发明(设计)人: 桂小红;宋香娥;李铁;郑兴华;唐大伟 申请(专利权)人: 中国科学院工程热物理研究所
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100190 北京*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 温控 组件 性能 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种温控组件热性能测试系统,包括供电单元、真空室和温度采集与分析单元,其特征在于,所述真空室包括密封连接的真空室钟形罩和真空室底板,所述真空室的内腔中设置蓄热槽和电热元件,所述电热元件加热片和蓄热槽的底面紧密贴合,所述蓄热槽内放置温控组件,在所述温控组件中设置热电偶,所述电热元件通过设置在所述真空室底板上的航空插头与供电单元电连接,所述热电偶也通过所述航空插头与所述温度采集与分析单元连接。

2.根据权利要求1所述的温控组件热性能测试系统,其特征在于,所述温控组件为相变材料温控组件。

3.根据权利要求1所述的温控组件热性能测试系统,其特征在于,所述电热元件为氮化硅电热元件。

4.根据权利要求1所述的温控组件热性能测试系统,其特征在于,所述真空室钟形罩的侧壁上设有观察窗。

5.根据权利要求1至4任一项所述的温控组件热性能测试系统,其特征在于,温控组件热性能测试系统还包括与真空室底板对接的用以抽取真空室内部空气的分子泵。

6.根据权利要求1至4任一项所述的温控组件热性能测试系统,其特征在于,所述温度采集与分析单元包括通信连接的温度采集器和数据分析单元,所述热电偶与所述温度采集器连接。

7.根据权利要求1至4任一项所述的温控组件热性能测试系统,其特征在于,所述供电单元、真空室固定于一移动工作台上。

8.根据权利要求1至4任一项所述的温控组件热性能测试系统,其特征在于,所述供电单元包括依次电连接的可控硅调功器、空气开关和接线端子,所述电热元件通过导线与所述接线端子连接。

9.根据权利要求1至4任一项所述的温控组件热性能测试系统,其特征在于,所述热电偶为K型热电偶。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院工程热物理研究所,未经中国科学院工程热物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201420484932.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top