[实用新型]一种阵列插脚器件测试座

说明书

技术领域

本实用新型涉及插脚器件测试座，更具体地说，涉及一种阵列插脚器件测试座。

背景技术

利用相关技术中的插脚器件测试座对整列插脚器件进行导通测试时，通常是将待测试插脚器件的插脚卡入到Y型结构的接触端子内进行测试。该测试方法多次插拔后容易对测试座上的接触端子产生磨损，降低了测试座的使用寿命，Y型结构的接触端子还会占用较大的空间，不适合测试高密度的待测试插脚器件的插脚。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于，提供一种改进的阵列插脚器件测试座。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种阵列插脚器件测试座，包括上盖、底座，所述上盖包括上基板，所述底座包括下基板；

所述上基板上设有与待测阵列插脚器件的各插脚的位置分别对应的若干穿孔，以供各所述插脚穿过；

所述下基板上设有与所述若干穿孔位置对应的若干测试孔，每一所述测试孔中均设有测试弹片；

所述上盖可沿水平方向在第一位置和第二位置之间来回移动地安装于所述底座上侧，以使所述插脚穿过所述穿孔、并穿过到对应位置的所述测试孔内的部分接触或远离对应位置的所述测试弹片。

优选地，所述上基板的下侧设有沿纵长设置的支撑台，所述支撑台的下侧可滑动地与所述底座的上表面配合，以减少所述上盖和所述底座之间的滑动摩擦力。

优选地，所述测试弹片呈r形。

优选地，所述下基板呈方块状，所述测试孔沿所述下基板的纵向和/或横向排布。

优选地，所述上盖还包括设于所述上基板的纵向两相对侧，并与所述下基板的纵向两相对的侧面配合的导向壁，以使所述上盖在所述下基板上沿横向移动。

优选地，所述上盖还包括设于所述上基板的横向两相对侧，并分别与所述下基板的横向两相对端配合的第一限位壁、第二限位壁，所述第一限位壁、第二限位壁的内侧面之间的距离大于所述底座的横向两相对端之间的距离，以使所述上盖能在所述第一位置和所述第二位置之间移动。

优选地，所述第一限位壁、第二限位壁的内侧面之间的距离等于所述下基板两相对端之间的距离与所述第一位置到所述第二位置的行程之和。

优选地，所述阵列插脚器件测试座还包括用于带动所述上盖在所述第一位置和所述第二位置移动的驱动装置。

优选地，所述驱动装置包括摇杆，所述摇杆包括摇动部及枢轴部，所述枢轴部的轴向沿纵向设置，所述枢轴部包括相互偏心的第一轴及第二轴，所述摇动部与所述第一轴连接；

所述底座还包括设于所述下基板任一侧的枢接部，所述第一轴与所述枢接部枢接，所述摇动部带动所述枢轴部枢转，以驱使所述上盖横向来回移动。

优选地，所述枢接部设于所述下基板与所述第一限位壁对应的一侧，所述上盖还包括设于所述第一限位壁外侧并与所述第一限位壁间隔设置的卡合壁，所述第二轴卡合在所述第一限位壁和所述卡合壁之间；

所述枢轴部包括位于两端的第一轴和位于中部的第二轴，所述摇动部与其中至少一个所述第一轴连接并垂直向外延伸。

实施本实用新型的阵列插脚器件测试座，具有以下有益效果：在待测阵列插脚器件的插脚穿过上基板上的各穿孔后，上盖沿水平方向在第一位置和第二位置之间来回移动，可使插脚穿过穿孔的部分接触或远离下基板对应位置测试孔上的测试弹片，进行待测阵列插脚器件的导通测试。该实用新型中的阵列插脚器件测试座采用插脚与测试弹片单边侧面接触的方法对待测试阵列插脚器件进行导通测试，提升了阵列插脚器件测试座的使用寿命；结构简单，提升了测试弹片的排列密度；同时，可对各测试弹片单独更换，节约了成本。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明，附图中：

图1是本实用新型实施例中的阵列插脚器件测试座分解状态结构示意图；

图2是上盖在第一位置时的阵列插脚器件测试座横向剖面局部示意图；

图3是上盖在第二位置时的阵列插脚器件测试座横向剖面局部示意图；

图4是上盖倒转后的立体状态示意图。

具体实施方式

为了对本实用新型的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本实用新型的具体实施方式。

如图1、图2及图3所示，本实用新型一个优选实施例中的阵列插脚器件测试座包括上盖10、底座20、以及驱动装置30。上盖10可沿水平方向在第一位置A和第二位置B移动地安装于底座20上侧；驱动装置30设置在底座20上，并带动上盖10在第一位置A和第二位置B之间移动。