[实用新型]一种高压支柱瓷绝缘子超声相控阵检测用参考试块

说明书

技术领域

本实用新型涉及材料无损检测技术领域，具体地，涉及一种高压支柱瓷绝缘子(以下简称“瓷瓶”)超声相控阵检测专用参考试块。

背景技术

瓷瓶超声相控阵检测至今尚无专用参考试块，本实用新型设计、开发制作的试块主要应用于此项工作检测系统性能校准和检测结果评判。利用超声相控阵检测纵波扇形扫查方式，对“瓷瓶”检测范围内的内部缺陷、表面及近表面缺陷进行检测。

目前，超声相控阵检测瓷瓶内部缺陷、表面及近表面缺陷没有相关的产品可供使用。原有的《支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测》一书中所确定的JBX-1试块和传统的超声波检测瓷瓶的试块，无论从仪器调整和缺陷评判角度考虑，均已无法满足超声相控阵瓷瓶检测需要。

实用新型内容

本实用新型的目的在于，针对上述问题，提出一种高压支柱瓷绝缘子超声相控阵检测专用参考试块，以解决瓷瓶超声相控阵检测无参考试块的问题，实现了校准难度小、检测结果直观、精度高和误判率低的优点。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：开发设计一种适合瓷瓶超声相控阵检测用参考试块，采用月牙槽人工反射体作为表面及近表面缺陷检测基准灵敏度调整依据，采用φ1mm通孔作为内部缺陷检测基准灵敏度调整依据，用于超声相控阵检测高压支柱瓷绝缘子的试块本体，实现以下功能：

1.调整检测系统扫描速度；

2.确定检测灵敏度；

3.制作检测DAC曲线；

4.对缺陷进行评定。

所述试块分为I区、II区和III区三个区域。

进一步地，在所述试块Ⅰ区设置8个φ1mm通孔，仪器调整时，从试块本体上、下两端面分别入射，距探测面垂直深度范围为30-180mm，间距10mm；用于纵波入射 检测瓷瓶内部缺陷时检测灵敏度调整和DAC曲线制作；

在所述试块Ⅰ区上下两检测面分别设置一个表面开口的模拟裂纹月牙槽，槽长度30mm,宽度为0.4±0.02mm，最大深度5±0.02mm；作为表面及近表面缺陷检测灵敏度调整和DAC曲线制作时的参考反射体。

进一步地，在所述试块Ⅱ区设有9个φ1mm通孔，呈1/4圆周分布，半径为50mm，用于相控阵检测角度增益补偿验证，也用于作为现场临时角度补偿曲线制作依据。

进一步地，在所述试块Ⅲ区设置有2个月牙槽，规格分别为宽度为0.4±0.02mm，最大深度分别为3±0.02mm和4±0.02mm，作为实际检测时表面及近表面缺陷反射对比依据；也能够起到检测系统表面缺陷(近表面)最大检测灵敏度验证作用。试块Ⅰ区将深度5mm月牙槽和8个φ1mm通孔布置在同一轴线上，仪器调整时，表面及近表面缺陷人工反射体同时显示，一次完成调试的特点。

本实用新型的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本实用新型而了解。

下面通过附图和示例，对本实用新型的技术方案做进一步的详细描述。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1为本实用新型高压支柱瓷绝缘子超声相控阵检测专用参考试块中检测部位的结构示意图；

图2为本实用新型高压支柱瓷绝缘子超声相控阵检测仪器范围设置对应瓷瓶扫查范围示意图；(1—铸铁法兰；2—瓷体；3—探头)

图3为本实用新型高压支柱瓷绝缘子超声相控阵检测专用参考试块的设计图；其中，(a)为主视图；(b)为(a)的I-I剖视图；(c)为(a)中A部的局部放大图，深度5±0.02，宽度0.4±0.02；(d)为(a)中B部的局部放大图，深度3±0.02，宽度0.4±0.02；(e)为(a)中C部的局部放大图，深度4±0.02，宽度0.4±0.02；

技术要求：1、所有表面Ra3.2；2、材质均匀，无影响使用缺陷；3、声速6350±50m/s；4、试块尺寸及缺陷的位置误差±0.1mm；

图4本实用新型试块超声相控阵扇形扫描人工缺陷反射信号显示。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优 选实施例仅用于说明和解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。