[实用新型]半导体制冷强光稳定性试验箱有效
申请号: | 201420369258.4 | 申请日: | 2014-07-04 |
公开(公告)号: | CN204074092U | 公开(公告)日: | 2015-01-07 |
发明(设计)人: | 王伟 | 申请(专利权)人: | 宁波艾德生仪器有限公司 |
主分类号: | B01L1/00 | 分类号: | B01L1/00;B01L7/00 |
代理公司: | 宁波市鄞州甬致专利代理事务所(普通合伙) 33228 | 代理人: | 章松伟 |
地址: | 315157 浙江省宁波市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 制冷 强光 稳定性 试验 | ||
1.一种半导体制冷强光稳定性试验箱,它包括试验箱体(1),温度、照度传感器设于试验箱体(1)内,其特征在于,试验箱体(1)内后面(2)安装有挡板(3),试验箱体(1)内每个用于放置试验对象的搁板(12)的上方均设有灯架(13),灯架(13)内可拆式安装有若干灯管,搁板(12)后端、灯架(13)后端各自与挡板(3)之间均设有用于通风的间隔,后面(2)与挡板(3)之间的间隔内自上而下依序安装有主动循环风扇(4)、加热器、半导体制冷器,挡板(3)上对应主动循环风扇(4)的位置设有进风口(5),挡板(3)下部设有出风口(6);灯架(13)、主动循环风扇(4)、加热器、半导体制冷器、温度、照度传感器均与控制单元电连接。
2.根据权利要求1所述的半导体制冷强光稳定性试验箱,其特征在于,加热器采用电热丝(7)加热,各电热丝(7)自上而下依序安装在支架(8)上,且水平向相互平行,支架(8)呈上部靠向后面(2)而下部靠向挡板(3)的倾斜设置。
3.根据权利要求1所述的半导体制冷强光稳定性试验箱,其特征在于,半导体制冷器的冷端位于试验箱体(1)内的后面(2),半导体制冷器的热端位于试验箱体(1)外部背面(9)与后面(2)上冷端安装位对应的位置。
4.根据权利要求3所述的半导体制冷强光稳定性试验箱,其特征在于,半导体制冷器的冷端和热端均设有换热翅片、罩壳(10)以及风扇(11),风扇(11)安装在罩壳(10)的正面上,罩壳(10)的左右两端以及罩壳(10)用于安装风扇(11)的部分均为通风用的开口。
5.根据权利要求4所述的半导体制冷强光稳定性试验箱,其特征在于,半导体制冷器为两个。
6.根据权利要求5所述的半导体制冷强光稳定性试验箱,其特征在于,两个半导体制冷器上下并列设置,两个半导体制冷器的冷端共用一个罩壳(10),两个半导体制冷器的热端共用一个罩壳(10)。
7.根据权利要求1所述的半导体制冷强光稳定性试验箱,其特征在于,试验箱体(1)内的侧面上设有引线口(14),引线口(14)位于试验箱体(1)内的一端覆盖有十字划破的硅胶,引线口(14)位于试验箱体(1)外的另一端装有密封盖。
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