[实用新型]TE模介质谐振腔及滤波器

权利要求书

1.一种TE模介质谐振腔，包括谐振腔主体、内腔、以及位于所述内腔的谐振子，其特征是：所述谐振子包括第一谐振子单元和第二谐振子单元，所述第一谐振子单元与第二谐振子单元之间具有介质层。

2.如权利要求1所述的TE模介质谐振腔，其特征是：所述第一谐振子单元通过所述介质层支撑所述第二谐振子单元。

3.如权利要求2所述的TE模介质谐振腔，其特征是：还包括支撑件，所述支撑件位于所述内腔内，所述支撑件用于支撑所述第一谐振子单元。

4.如权利要求1所述的TE模介质谐振腔，其特征是：所述介质层是介电常数比所述谐振子的介电常数低的介质。

5.如权利要求4所述的TE模介质谐振腔，其特征是：所述介质层是氧化硅、橡胶、聚乙烯或空气。

6.如权利要求1所述的TE模介质谐振腔，其特征是：所述第一谐振子单元和第二谐振子单元的横截面是圆形、矩形或者环形。

7.如权利要求6所述的TE模介质谐振腔，其特征是：所述介质层是环形状，所述第一谐振子单元、第二谐振子单元和介质层的中心轴重合。

8.如权利要求1所述的TE模介质谐振腔，其特征是：所述谐振子包括多个谐振子单元，相邻的谐振子单元之间具有介质层。

9.如权利要求1所述的TE模介质谐振腔，其特征是：所述介质层通过胶水固定在第一谐振子单元和第二谐振子单元上，或者，所述介质层通过烧结固定在第一谐振子单元和第二谐振子单元上。

10.如权利要求1所述的TE模介质谐振腔，其特征是：第一谐振子单元和/或第二谐振子单元上设有导电几何结构。

11.一种TE模介质滤波器，其特征是，包括如权利要求1所述的TE模介质谐振腔、以及低通滤波器，所述TE模介质谐振腔的输出端与所述低通滤波器的输入端连接，所述低通滤波器用于滤除所述谐振子的二次谐波。

12.如权利要求11所述的TE模介质滤波器，其特征是，所述TE模介质滤波器包括多个TE模介质谐振腔。