[实用新型]电子元件检测装置及其治具有效
| 申请号: | 201420350320.5 | 申请日: | 2014-06-27 |
| 公开(公告)号: | CN203949986U | 公开(公告)日: | 2014-11-19 |
| 发明(设计)人: | 黄文荣;温汉威;林承贤;赖俊铭;杨建成;吴荣富;宋胜泰 | 申请(专利权)人: | 泰艺电子股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
| 代理公司: | 北京泰吉知识产权代理有限公司 11355 | 代理人: | 张雅军 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电子元件 检测 装置 及其 | ||
1.一种电子元件检测装置,适用于一待测电子元件的电性测试,该待测电子元件具有多个导电接触部;其特征在于:
该电子元件检测装置包含一测试电路板及一治具,该测试电路板形成有多个焊接部,该治具包括一绝缘本体、多根探针,及至少一锁接组件,该绝缘本体,设置于该测试电路板上,该绝缘本体形成有一用以供该待测电子元件容置的容置槽,及多个与该容置槽相连通的贯孔,各该探针可移离地穿设于对应的该贯孔内,各该探针底端焊接于对应的该焊接部,各该探针顶端抵接于对应的该导电接触部,使各该探针电连接于对应的该焊接部与对应的该导电接触部之间,该锁接组件可拆卸地将该绝缘本体锁固于该测试电路板上。
2.根据权利要求1所述的电子元件检测装置,其特征在于:各该探针具有一外径,各该贯孔具有一大于该外径的孔径。
3.根据权利要求1或2所述的电子元件检测装置,其特征在于:该测试电路板形成有两个穿孔,该绝缘本体形成有两个分别与两穿孔相连通的通孔,该治具包括两个锁接组件,各该锁接组件包含一螺栓及一螺帽,各该锁接组件的该螺栓穿设于对应的该通孔与对应的该穿孔,且该螺栓螺接在抵接于该测试电路板一侧的该螺帽。
4.一种电子元件检测装置,适用于多个待测电子元件的电性测试,各该待测电子元件具有多个导电接触部;其特征在于:
该电子元件检测装置包含一测试电路板及一治具,该测试电路板形成有多个焊接部,该治具包括一绝缘本体、多根探针,及至少一锁接组件,该绝缘本体设置于该测试电路板上,该绝缘本体形成有多个分别用以供所述待测电子元件容置的容置槽,及多个安装单元,各该安装单元包含多个与对应的该容置槽相连通的贯孔,各该探针可移离地穿设于对应的该贯孔内,各该探针底端焊接于对应的该焊接部,各该探针顶端抵接于对应的该导电接触部,使各该探针电连接于对应的该焊接部与对应的该导电接触部之间,该锁接组件可拆卸地将该绝缘本体锁固于该测试电路板上。
5.根据权利要求4所述的电子元件检测装置,其特征在于:各 该探针具有一外径,各该贯孔具有一大于该外径的孔径。
6.根据权利要求4或5所述的电子元件检测装置,其特征在于:该测试电路板形成有两个穿孔,该绝缘本体形成有两个分别与两穿孔相连通的通孔,该治具包括两个锁接组件,各该锁接组件包含一螺栓及一螺帽,各该锁接组件的该螺栓穿设于对应的该通孔与对应的该穿孔,且该螺栓螺接在抵接于该测试电路板一侧的该螺帽。
7.一种治具,适于设置在一测试电路板上并可供一待测电子元件放置,该测试电路板形成有多个焊接部,该待测电子元件形成有多个导电接处部;其特征在于:
该治具包括一绝缘本体、多根探针,及至少一锁接组件,该绝缘本体设置于该测试电路板上,该绝缘本体形成有一用以供该待测电子元件容置的容置槽,及多个与该容置槽相连通的贯孔,各该探针可移离地穿设于对应的该贯孔内,各该探针底端焊接于对应的该焊接部,各该探针顶端抵接于对应的该导电接触部,使各该探针电连接于对应的该焊接部与对应的该导电接触部之间,该锁接组件可拆卸地将该绝缘本体锁固于该测试电路板上。
8.根据权利要求7所述的治具,其特征在于:各该探针具有一外径,各该贯孔具有一大于该外径的孔径。
9.根据权利要求7或8所述的治具,其特征在于:该测试电路板形成有两个穿孔,该绝缘本体形成有两个分别与两穿孔相连通的通孔,该治具包括两个锁接组件,各该锁接组件包含一螺栓及一螺帽,各该锁接组件的该螺栓穿设于对应的该通孔与对应的该穿孔,且该螺栓螺接在抵接于该测试电路板一侧的该螺帽。
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