[实用新型]一种硬币检测系统有效
申请号: | 201420338480.8 | 申请日: | 2014-06-23 |
公开(公告)号: | CN204129826U | 公开(公告)日: | 2015-01-28 |
发明(设计)人: | 詹姆斯·G·迪克;郭海平 | 申请(专利权)人: | 江苏多维科技有限公司 |
主分类号: | G07D5/08 | 分类号: | G07D5/08 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 李艳;孙仿卫 |
地址: | 215600 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 硬币 检测 系统 | ||
1.一种硬币检测系统,其特征在于,该硬币检测系统包括激励线圈,径向磁梯度计和轴向磁梯度计;
所述激励线圈用于向待测硬币提供轴向的激励磁场,所述激励磁场在所述待测硬币内部感生涡流,所述涡流产生感生磁场;
所述径向磁梯度计包括至少两个径向磁阻传感器且所述轴向磁梯度计包括至少两个轴向磁阻传感器,所述径向磁阻传感器和所述轴向磁阻传感器各自分别相对所述激励线圈的中心面或中心点对称分布;所述径向磁梯度计用于检测所述感生磁场在所述激励线圈对应两侧且沿所述待测硬币径向上的磁场分量之差,所述轴向磁梯度计用于检测所述感生磁场在所述激励线圈对应两侧且沿所述待测硬币轴向上的磁场分量之差,所述对应两侧是指沿着所述激励线圈轴向上相对的两侧;
所述激励线圈被定位,其定位方式使得所述待测硬币的表面与所述激励线圈的中心面平行,并且所述待测硬币的表面与所述中心面之间的距离至少为所述激励线圈高度的一半。
2.根据权利要求1所述的硬币检测系统,其特征在于,所述硬币检测系统进一步包括:用于激励所述激励线圈的信号激励源和驱动电路,用于放大所述径向磁梯度计和所述轴向磁梯度计所产生的信号的模拟前端电路,以及用于计算所述模拟前端电路输出的放大信号的实部分量和虚部分量的处理器。
3.根据权利要求2所述的硬币检测系统,其特征在于,所述信号激励源所产生的信号含有交流信号,所述交流信号包含有至少一个频率分量;所述处理器计算与每一频率分量相对应的放大信号的实部分量和虚部分量。
4.根据权利要求3所述的硬币检测系统,其特征在于,所述信号激励源还用于在所述交流信号存续期间施加直流信号,所述激励线圈所产生的激励磁场为直流磁场和交流磁场的叠加场。
5.根据权利要求4所述的硬币检测系统,其特征在于,当所述待测硬币的材料为铁磁材料或所述待测硬币的表面涂覆有铁磁材料时,施加所述直流磁场后,输出信号的幅值会降低;当所述待测硬币的材料为导体时,所述直流磁场不影响输出信号的幅值。
6.根据权利要求3所述的硬币检测系统,其特征在于,所述硬币检测系统能检测出每种类型的硬币所对应的实部分量和虚部分量的幅值。
7.根据权利要求1所述的硬币检测系统,其特征在于,所述激励线圈为单个线圈或多个线圈相叠加组成的阵列,所述激励线圈所围成的圆周直径大于或等于所述待测硬币的直径。
8.根据权利要求1所述的硬币检测系统,其特征在于,所述径向磁梯度计位于所述激励线 圈的内部边缘且位于所述待测硬币边缘的下方,所述径向磁阻传感器相对所述激励线圈的中心对称;所述轴向磁梯度计位于所述激励线圈的内部且位于或接近所述待测硬币的中心的下方,所述轴向磁阻传感器沿所述激励线圈的轴向相对所述激励线圈的中心对称分布。
9.根据权利要求1所述的硬币检测系统,其特征在于,所述硬币检测系统还包括第一PCB和第二PCB,所述径向磁阻传感器分别位于所述第一PCB和第二PCB上,所述轴向磁阻传感器分别位于所述第一PCB和第二PCB上,所述激励线圈被固定于所述第一PCB和第二PCB之间;所述待测硬币位于第一PCB和第二PCB的上方。
10.根据权利要求1、2、7或8任一项所述的硬币检测系统,其特征在于,所述径向磁阻传感器为X轴线性传感器,所述轴向磁阻传感器为Z轴线性传感器,所述X轴线性传感器的敏感方向与所述待测硬币的径向平行,所述Z轴线性传感器的敏感方向与所述待测硬币的轴向平行。
11.根据权利要求10所述的硬币检测系统,其特征在于,所述X轴线性传感器、所述Z轴线性传感器为单电阻、半桥或全桥结构,所述单电阻、半桥的桥臂或全桥的桥臂由一个或多个相互电连接的磁电阻元件组成。
12.根据权利要求11所述的硬币检测系统,其特征在于,所述磁电阻元件为Hall,AMR,GMR,TMR或半导体磁电阻元件。
13.根据权利要求1、2、7或8所述的硬币检测系统,其特征在于,所述硬币检测系统还包括一定位装置,所述定位装置用于定位所述待测硬币所放置的位置,使得所述待测硬币接近于所述径向磁梯度计和所述轴向磁梯度计的一侧。
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