[实用新型]晶圆封装机及其平行调整装置有效
申请号: | 201420331408.2 | 申请日: | 2014-06-20 |
公开(公告)号: | CN204029767U | 公开(公告)日: | 2014-12-17 |
发明(设计)人: | 许鸿铭;张木庆 | 申请(专利权)人: | 苏州均华精密机械有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 马明渡;徐丹 |
地址: | 215101 江苏省苏州市吴中区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶圆封 装机 及其 平行 调整 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种晶圆封装机及其平行调整装置,尤指一种具有平行效果,或者能使上、下模平行的晶圆封装机,以及能够提供该平行效果的平行调整装置。
背景技术
晶圆贴膜,其亦可称为晶圆封装,其系将一晶圆与一膜设置于一封装机中,该封装机再将膜压附于晶圆的一面。
虽上述之封装机能够应付现有的晶圆封装需求,但于晶圆封装过程中,其对于封装机、晶圆或膜的水平状态系十分要求,因若无法保持水平,则可能导致封装失败,进而造成大量成本的损失,然其根本为上模与下模是否能够维持于一平行状态,故如何于封装过程中保持一上、下模之平行状态,其系成为各厂商所思考的课题。
发明内容
本实用新型目的在于提供一种晶圆封装机及其平行调整装置,其系藉由改变上模相对于下模的相对位置,或者下模相对上模的相对位置,而使上模与下模之间维持于一平行状态。
为达到上述目的,本实用新型提供一种平行调整装置,其具有:
一第一体,其一面具有一第一调整弧凹面;
一第二体,其系能够移动地设于该第一体,该第二体面对该第一调整弧凹面的一面具有一第二调整弧凸面,该第二调整弧凸面系贴合于该第一调整弧凹面;
一第三体,其系设于该第二体,该第三体远离该第二体的一面具有一第三调整弧凹面;
一第四体,其系能够移动地设于该第三体,该第四体面对该第三调整弧凹面的一面具有一第四调整弧凸面,该第四调整弧凸面系贴合于该第三调整弧凹面;
一第一调整组,其系设于该第三体的端部,并且抵靠该第四体;以及
一第二调整组,其系设于该第一体的端部,并且抵靠于该第二体。
上述方案中,还具有多个万向连接件,该些万向连接件系分别设于该第二体与该第三体之间,以及该第四体与该第五体之间。
为达到上述目的,本实用新型提供一种晶圆封装机,其包含有:
一基座;
一升降单元,其系设于该基座的顶端;
一平行调整装置,其系设于该升降装置的顶端,该平行调整装置具有:
一第一体,其一面具有一第一调整弧凹面;
一第二体,其系能够移动地设于该第一体,该第二体面对该第一调整弧凹面的一面具有一第二调整弧凸面,该第二调整弧凸面系贴合于该第一调整弧凹面;
一第三体,其系设于该第二体,该第三体远离该第二体的一面具有一第三调整弧凹面;
一第四体,其系能够移动地设于该第三体,该第四体面对该第三调整弧凹面的一面具有一第四调整弧凸面,该第四调整弧凸面系贴合于该第三调整弧凹面;
一第一调整组,其系设于该第三体的端部,并且抵靠该第四体;以及
一第二调整组,其系设于该第一体的端部,并且抵靠于该第二体;
一下模,其系设于该平行调整装置的顶端;以及
一上模,其系设于该下模的上方。
上述方案中,还具有多个万向连接件,该些万向连接件系分别设于该第二体与该第三体之间,以及该第四体与该第五体之间。
上述方案中,还具有一第五体与一基体,该第五体系设于该第四体的另一面,该第五体系耦接该下模,该基体系设于该第一体的另一面。
上述方案中,所述第一调整组为二螺杆与二螺座之组合,各螺座系设于该第三体的端部,各螺杆系穿设于各螺座,并且各螺杆的一端系抵靠于该第四体的端部;该第二调整组能够为二螺杆与二螺座之组合,各螺座系设于该第一体的端部,各螺杆系穿设于各螺座,并且各螺杆的一端系抵靠于该第二体的端部。
为达到上述目的,本实用新型提供一种晶圆封装机,其包含有:
一基座;
一升降单元,其系设于该基座的顶端;
一下模,其系耦接该升降单元;
一上模,其系设于该下模的上方;以及
一平行调整装置,其系设于该上模的顶端,该平行调整装置具有:
一第一体,其一面具有一第一调整弧凹面;
一第二体,其系能够移动地设于该第一体,该第二体面对该第一调整弧凹面的一面具有一第二调整弧凸面,该第二调整弧凸面系贴合于该第一调整弧凹面;
一第三体,其系设于该第二体,该第三体远离该第二体的一面具有一第三调整弧凹面;
一第四体,其系能够移动地设于该第三体,该第四体面对该第三调整弧凹面的一面具有一第四调整弧凸面,该第四调整弧凸面系贴合于该第三调整弧凹面;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造