[实用新型]基于扫频光源的共路光学相干层析成像系统

权利要求书

1.一种基于扫频光源的共路光学相干层析成像系统，其特征在于：包括宽带扫频光源(1)、三端环形器(2)、探头(3)、干涉系统及控制处理系统，所述探头(3)包括格林透镜(4)及MEMS反射镜(6)；所述宽带扫频光源(1)发出的激光经所述三端环形器(2)进入所述探头(3)，所述探头(3)中的所述格林透镜(4)将一部分激光进行汇聚形成汇聚激光，所述汇聚激光经所述MEMS反射镜(6)反射出所述探头(3)后照射到样品上，所述控制处理系统对所述MEMS反射镜(6)加电控制使经所述MEMS反射镜(6)反射的所述汇聚激光对样品进行一维或二维扫描，以得到一维或二维的样品信息，带有样品信息的汇聚激光经过样品不同深度的后向散射后被所述探头(3)收集并回到所述三端环形器(2)，形成样品光；另一部分激光经所述格林透镜(4)的端面(5)后直接反射回所述三端环形器(2)，形成参考光；所述样品光与所述参考光经所述三端环形器(2)后进入所述干涉系统干涉后形成干涉信号，该干涉信号经所述控制处理系统转换为电信号并处理，形成样品的二维或三维图像。

2.根据权利要求1所述的一种基于扫频光源的共路光学相干层析成像系统，其特征在于：所述干涉系统包括第一耦合器(7)、第一光纤(8)、第二光纤(9)、第二耦合器(10)，所述样品光经所述三端环形器(2)后进入所述第一耦合器(7)分成两束样品光，其中一束样品光进入所述第一光纤(8)，另一束样品光进入所述第二光纤(9)，所述参考光经所述三端环形器(2)后进入所述第一耦合器(7)分成两束参考光，其中一束参考光进入所述第一光纤(8)，另一束参考光进入所述第二光纤(9)，经所述第一光纤(8)、所述第二光纤(9)的参考光与样品光进入所述第二耦合器(10)后，形成具有相位差的两路干涉信号。

3.根据权利要求2所述的一种基于扫频光源的共路光学相干层析成像系统，其特征在于：所述第一耦合器(7)为一分二耦合器，所述第二耦合器(10)为二分二耦合器，所述第一光纤(8)与第二光纤(9)分别具有不同长度。

4.根据权利要求2所述的一种基于扫频光源的共路光学相干层析成像系统，其特征在于：所述控制处理系统包括平衡探测器(11)、高速采集卡(12)、计算机(13)、控制卡(14)；所述控制卡(14)输出用于驱动所述MEMS反射镜(6)使经所述MEMS反射镜(6)反射的汇聚激光对样品进行一维或二维扫描的驱动信号以及样品扫描的同步信号，所述两路干涉信号经所述平衡探测器(11)后形成一路差分后的电信号，该电信号进入所述高速采集卡(12)的数据采集端，该高速采集卡(12)根据所述同步信号采集样品的一维或二维扫描信息，并接收所述宽带扫频光源(1)发出的采样信号，根据所述同步信号与所述采样信号对接收的所述电信号进行信号采集转换，使其转换成离散的包含样品信息的干涉信号，该离散的干涉信号在所述计算机(13)中进行傅里叶变换，以得到样品的二维图像，所述二维图像进一步重构为三维图像。

5.根据权利要求4所述的一种基于扫频光源的共路光学相干层析成像系统，其特征在于：所述控制卡(14)为一块板卡或者多块板卡。

6.根据权利要求1所述的一种基于扫频光源的共路光学相干层析成像系统，其特征在于：所述激光为宽带扫频可见光、近红外或红外光。