[实用新型]一种新型的弱电压检测电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种电压检测电路，尤其涉及一种弱电压检测电路。

背景技术

随着电气、电力行业技术的发展，电子装置在电路中的应用越来越广泛，系统对电子装置的安全性要求越来越高，导致电子装置对电压、电流的精确性要求越来越高，当供电电压高于或者低于正常工作电压一定值时，都可能导致电子装置无法正常工作甚至损坏。为了解决上述问题，人们设计了过压、欠压保护电路，目前常用的过压、欠压保护电路是通过被测电压驱动隔离光耦来输出相应的高低电平，然后将信号传输给控制芯片实现保护逻辑。然而该电路中，光耦有一个c(光耦处于似导通和非导通状态)，在这种状态中系统无法做出正确判断是否保护。

实用新型内容

针对光耦隔离作电源测试技术存在的不足本实用新型提供了一种消除误保护的弱电压检测电路。并且可以根据系统需求，只需调整“电压比较单元”中分压电阻的参数就能实现你想要的保护值范围。

为了解决以上问题本实用新型提供了一种新型的弱电压检测电路，其特征在于：包括基准电压输出单元；电压比较单元；光耦隔离信号输出单元；光耦隔离信号输出单元包括二极管驱动单元、光耦；被测弱电压与基准电压输出单元输出的基准电压通过电压比较单元中的比较器进行比较输出高低电平，当比较器输出的电平为低电平，则通过二极管驱动单元驱动光耦，使得原光耦隔离信号输出单元输出给CPU的信号由高电平信号转变成低电平信号；反之，比较器输出的电平为高电平，则二极管驱动单元不驱动光耦，则光耦隔离信号输出单元输出给CPU的电平信号始终为高电平信号。

所述的基准电压输出单元包括：电源芯片U4，用来把系统提供的VSS+15V_1转换成基准电压10V_1;

所述的电压比较单元包括： 分压电阻R16、分压电阻R17、分压电阻R18、分压电阻R19、比较器U5A、比较器U5B，通过比较器的高低电平的输出来确定系统对被测电压的正常工作范围；

所述的光耦隔离信号输出单元包括：驱动二极管Z6、驱动二极管Z7、限流电阻R15、限流电阻R10 、限流电阻R11、光耦U2；

被测电压通过分压电阻R19，分压电阻R18与比较器U5B的5脚连接；被测电压通过分压电阻R16，分压电阻R17与比较器U5A的2脚连接；系统提供的VSS+15V_1通过电源芯片U4的2脚转换成基准电压10V_1通过6脚输出分别连接到比较器U5A的3脚和比较器U5B的6脚；系统提供的VSS+15V_1和VDD分别连接到比较器U5A的8脚和4脚给比较器U5A和比较器U5B提供工作电源；比较器U5A的1脚连接到二极管Z6的阴极，比较器U5B的7脚连接到二极管Z7的阴极；

二极管Z6，二极管Z7的阳极同时连接到光耦U2的2脚；系统提供的VSS+15V_1通过限流电阻R15连接到光耦U2的2脚做上拉；系统提供的VSS+15V_1通过限流电阻R10连接到光耦的1脚；系统提供的VCC+5V通过限流电阻R11连接到光耦U2的4脚为输出给CPU的信号；光耦U2的3脚接VCC的地。

所述的电源芯片U4采用EF102。

本实用新型通过电压比较器单元避开了被测电源电压直接驱动光耦存在的空窗期（光耦处于似导通非导通状态），从而使最终光耦副边输出至CPU的信号高低状态稳定，不会导致系统在这方面出现“误保护”状态。

附图说明

图1是本实用新型的应用原理框图；

图2为本实用新型的电路图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步的描述。

如图1至2所示，本实用新型提供了一种新型的弱电压检测电路，包括基准电压输出单元；电压比较单元；光耦隔离信号输出单元；

假定光耦隔离信号输出单元输出给CPU逻辑电平定义高电平为电压的正常状态，低电平为电压的故障状态。被测弱电压与基准电压输出单元输出的基准电压通过电压比较单元中的比较器进行比较，如果比较器的输出端输出低电平，通过二极管驱动单元的二极管导通驱动光耦原边，使得光耦隔离信号输出单元输出给CPU的逻辑电平由高电平转变成低电平。根据上述假定的条件，被测弱电压发生故障；反之如果比较器的输出端输出高电平，二极管驱动单元的二极管不导通，则光耦不导通，使得光耦隔离信号输出单元的输出给CPU的逻辑电平一直处于高电平状态。根据上述假定的条件，被测弱电压正常。

所述的基准电压输出单元包括：电源芯片U4，用来把系统提供的VSS+15V_1转换成基准电压10V_1;