[实用新型]转动光谱校正分析仪

说明书

技术领域

本发明涉及光谱校正分析领域，尤其涉及转动光谱校正分析仪。 

背景技术

光谱校正分析主要用于分析分子能级之间跃迁形成的发射光谱和吸收光谱，包括纯转动光谱、振动转动光谱带和电子光谱带。分子的纯转动光谱由分子转动能级之间的跃迁产生，分布在远红外波段，通常主要观测吸收光谱；振动-转动光谱带由不同振动能级上的各转动能级之间跃迁产生，是一些密集的谱线，分布在近红外波段，通常也主要观测吸收光谱；电子光谱带由不同电子态上不同振动和不同转动能级之间的跃迁产生，可分成许多带，分布在可见或紫外波段，可观测发射光谱。但是由于非极性分子由于不存在电偶极矩，没有转动光谱和振动-转动光谱带，只有极性分子才有这类光谱带，因此，现有的分析装置对于非极性分子的光谱分析还存在局限性，因此，需要提出合理的技术方案对上述问题予以解决。 

发明内容

为了克服现有装置的不足之处，本发明采用的技术方案如下： 

转动光谱校正分析仪，包括：光源装置(1)，第一光谱分离装置(2)，第二光谱分离装置(3)，光束折光装置(4)，光束波长校正装置(5)，光束吸收校验装置(7)，信号检测装置(8)，其中，通过光源装置(1)产生符合检测分析要求的光束，光束分别进入到第一光谱分离装置(2)和第二光谱分离装置(3)，通过上述两个光谱分离装置能够得到特定光谱波长的两束光，这两束光在光束折光装置(4)中汇集，通过光束折光装置(4)中的旋转六面棱镜，第一光谱分离装置(2)和第二光谱分离装置(3)产生的特定光束进行间歇式吸收和屏蔽，通过光束波长校正装置(5)对上述光束的光谱波长予以校正，减小误差；通过光束吸收校验装置(7)对吸收后的衰减光束进行校正，衰减光束通过信号检测装置(8)进行光电信号的转换； 

所述的光源装置(1)采用氢镍灯和石英低压汞灯串联组合，所述的第一光谱分离装置(2)含有凹面反射镜与棱镜，两者交替排列组合，所述的第二光谱分离装置(3)含有透镜与光栅，透镜在前，光栅在后，所述的光束折光装置(4)含有旋转六面棱镜，所述的光束波长校正装置(5)含有钼玻璃透镜和铕玻璃透镜，两者交替串联排列，所述的光束吸收校验装置(7)含有吸收池，所述的信号检测装置(8)中含有光电转化器。 

光源装置(1)主要用于产生符合检测要求的光束，第一光谱分离装置(2)主要用于对光束波长的筛选与分离，得到目标波长为L₁的特定光束，第二光谱分离装置(3)主要用于对光束波长的筛选与分离，得到目标波长为L₂的特定光束； 

光束折光装置(4)主要用于对第一光谱分离装置(2)和第二光谱分离装置(3)产生的特定光束进行间歇式吸收和屏蔽，光束波长校正装置(5)主要用于光源装置(1)产生的光束进行波长校正，消除误差，进样装置(6)主要用于检测分析样品的进样，光束吸收校验装置(7)主要通过标准液校正光束通过进样装置(6)后的衰减程度，信号检测装置(8)主要用于光束衰减后光电信号的转换与分析，对光谱变化具有较好的灵敏度，线性关系好，噪声水平低，信号分析记录装置(9)主要用于光电信号的保持与记录。 

本发明与现有技术相比具有的有益效果是： 

(1)对光谱变化具有较好的灵敏度，线性关系好，噪声水平低； 

(2)能够对特定光束进行间歇式吸收和屏蔽，提供分析检测精度； 

(3)对纯转动光谱、振动转动光谱和电子光谱都具有较好的检测效果和适应范围。 

附图说明

图1是转动光谱校正分析仪的示意图 

如图1所示，本发明所述的转动光谱校正分析仪，主要包括： 

1--光源装置，2--第一光谱分离装置，3--第二光谱分离装置， 

4--光束折光装置，5--光束波长校正装置，6--进样装置， 

7--光束吸收校验装置，8--信号检测装置，9--信号分析记录装置； 

下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细的描述。 

具体实施方式

通过光源装置(1)产生符合检测分析要求的光束，光束分别进入到第一光谱分离装置(2)和第二光谱分离装置(3)，通过上述两个光谱分离装置能够得到特定光谱波长的两束光，这两束光在光束折光装置(4)中汇集，通过光束折光装置(4)中的旋转六面棱镜，第一光谱分离装置(2)和第二光谱分离装置(3)产生的特定光束进行间歇式吸收和屏蔽，通过光束波长校正装置(5)对上述光束的光谱波长予以校正，减小误差，通过进样装置(6)实现分析样品的进样，通过光束吸收校验装置(7)对吸收后的衰减光束进行校正，衰减光束通过信号检测装置(8)进行光电信号的转换，转化后的光电信号进入到信号分析记录装置(9)予以保存和记录。