[实用新型]检验辐射场校准器有效
申请号: | 201420181370.5 | 申请日: | 2014-04-15 |
公开(公告)号: | CN203881952U | 公开(公告)日: | 2014-10-15 |
发明(设计)人: | 边昭斌;刘通;蒋太秋 | 申请(专利权)人: | 山东胜利钢管有限公司 |
主分类号: | G01T1/00 | 分类号: | G01T1/00;G01N23/00 |
代理公司: | 青岛发思特专利商标代理有限公司 37212 | 代理人: | 马俊荣 |
地址: | 255000*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检验 辐射 校准 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种检验辐射场校准器,属于定向X射线检测系统检验辐射场的校准工具领域。
背景技术
国内焊管厂家对油气输送用螺旋缝埋弧焊管的射线检验通常采用定向X射线检测系统。在更换射线管头、更换钢管规格、定期检查、发现机构有异常时,必须对定向X射线检测系统检验辐射场进行调校,目的是保证射线管头水平、探测器水平,X射线束中心对准探测器中心,避免检验过程中的缺欠漏检和对检验结果的误判。正确对射线检测系统检验辐射场的调校,是正常检验的前提。定向X射线检测系统检验辐射场(以下简称辐射场):用定向X射线机,平面阳极靶与管轴线方向呈20°的倾角,覆盖角度范围不小于40°,从射线管头发射窗口发射出有效辐射角范围内的射线束构成检验射线场。目前,大多数人员都是靠工作经验来判定检验辐射场是否调整至正确位置,但由于没有专业的校准工具,常常会存在一定的误差,带来辐射场的偏离,从而影响最终的检验结果。
实用新型内容
根据以上现有技术中的不足,本实用新型要解决的技术问题是:提供一种结构合理、成本低、操作简单、校准速度快且精确度高的检验辐射场校准器。
本实用新型所述的检验辐射场校准器,包括上水平板、下连接部和竖直支撑板,下连接部由下连接板和与X射线管头发射窗口连接的连接端组成,连接端固定在下连接板下方,上水平板和下连接板上、下相互平行且通过竖直支撑板连接,上水平板上设置定位通孔一,下连接部上设置定位通孔二,定位通孔一与定位通孔二的中心轴线相同,上水平板上还安装有水平泡。
工作原理及过程:
校准时,先将校准器下部的连接端竖直插在X射线管头发射窗口上,其上水平板上的水平泡可以校准X射线管头水平度(校准器自身重量不足以改变管头水平度);然后采用美国瓦里安DR平板检测系统,将平板探测器置于校准器的正上方,平板探测器规格130×130mm,像素尺寸为0.127mm,X射线管参数为:大焦点3.0mm,小焦点0.4mm,平板探测器的平面与X射线管阳极靶呈20°的倾角,覆盖角度范围不小于40°,匹配电流电压进行调校,通过校准器定位通孔一、定位通孔二的静态成像情况,对平板探测器进行微调整,焦距为410mm,定位通孔一到射线源的距离为325mm,若辐射场有偏离情况,校准后定位通孔一、定位通孔二成像则不同心,且会偏向显示窗口(即液晶显示器上的图像)一侧;若校准后两个圆成像同心,且位于显示窗口(即液晶显示器上的图像)中心,则平板探测器水平且X射线束对准平板探测器中心,辐射场调整正确,从而避免辐射场偏离对检验结果的影响。整个校准过程操作简单、校准速度快且精确度高,便于大规模推广应用。
本实用新型与现有技术相比所具有的有益效果是:
本检验辐射场校准器结构设计合理,通过本校准器能够保证X射线管头水平、平板探测器水平、使X射线束中心对准平板探测器中心,避免辐射场偏离对检验结果的影响,具有操作简单、校准速度快、精确度高、成本低的优点,便于大规模推广应用。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图;
图2是本实用新型的立体图。
图中:1、上水平板;2、定位通孔一;3、水平泡;4、竖直支撑板;5、下连接板;6、连接端;7、定位通孔二。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的实施例做进一步描述:
如图1、2所示,本检验辐射场校准器包括上水平板1、下连接部和竖直支撑板4,下连接部由下连接板5和与X射线管头发射窗口连接的连接端6组成,连接端6固定在下连接板5下方,上水平板1和下连接板5上、下相互平行且通过竖直支撑板4连接,上水平板1上设置定位通孔一2,下连接部上设置定位通孔二7,定位通孔一2与定位通孔二7的中心轴线相同,上水平板1上还安装有水平泡3。
工作原理及过程:
校准时,先将校准器下部的连接端6竖直插在X射线管头发射窗口上,其上水平板1上的水平泡3可以校准X射线管头水平度(校准器自身重量不足以改变管头水平度);然后采用美国瓦里安DR平板检测系统,将平板探测器置于校准器的正上方,平板探测器规格130×130mm,像素尺寸为0.127mm,X射线管参数为:大焦点3.0mm,小焦点0.4mm,平板探测器的平面与X射线管阳极靶呈20°的倾角,覆盖角度范围不小于40°,匹配电流电压进行调校,通过校准器定位通孔一2、定位通孔二7的静态成像情况,对平板探测器进行微调整,焦距为410mm,定位通孔一2到射线源的距离为325mm,若辐射场有偏离情况,校准后定位通孔一2、定位通孔二7成像则不同心,且会偏向显示窗口(即液晶显示器上的图像)一侧;若校准后两个圆成像同心,且位于显示窗口(即液晶显示器上的图像)中心,则平板探测器水平且X射线束对准平板探测器中心,辐射场调整正确,从而避免辐射场偏离对检验结果的影响。整个校准过程操作简单、校准速度快且精确度高,便于大规模推广应用。
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