[实用新型]光辐照度测量除杂装置有效

专利信息
申请号: 201420164498.0 申请日: 2014-04-04
公开(公告)号: CN203785786U 公开(公告)日: 2014-08-20
发明(设计)人: 吴启保 申请(专利权)人: 深圳信息职业技术学院
主分类号: G01J1/04 分类号: G01J1/04
代理公司: 深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙) 44314 代理人: 林俭良
地址: 518000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 辐照 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种光辐照度测量除杂装置,其特征在于,用于放置在待测光源和辐照度探头之间,该光辐照度测量除杂装置包括至少三个依次连接的安装筒体(10)、孔径可变的第一光阑(20)以及至少两个第二光阑(30),所述第一光阑(20)于所述待测光源与所述安装筒体(10)之间连接在所述安装筒体(10)上,至少两个所述第二光阑(30)分别连接在至少三个所述安装筒体(10)之间;自靠近所述第一光阑(20)的所述第二光阑(30)到靠近所述辐照度探头的所述第二光阑(30)的孔径依序递减。

2.根据权利要求1所述的光辐照度测量除杂装置,其特征在于,每一所述安装筒体(10)的相对两端分别设置有限位台(11),所述第一光阑(20)连接在所述安装筒体(10)朝向所述待测光源的一端的限位台(11)上,每一所述第二光阑(30)的相对两侧分别连接在相邻两个所述安装筒体(10)相向的一端的限位台(11)上。

3.根据权利要求2所述的光辐照度测量除杂装置,其特征在于,所述限位台(11)为凸设在所述安装筒体(10)上的环形凸台、或数个间隔凸设在所述安装筒体(10)上的凸柱。

4.根据权利要求1所述的光辐照度测量除杂装置,其特征在于,该光辐照度测量除杂装置还包括用于固定所述辐照度探头的定位组件(40);所述定位组件(40)包括连接在靠近所述辐照度探头的所述安装筒体(10)上的定位头(41)、以及凸设在所述定位头(41)朝向所述辐照度探头的一侧面上且用于配合所述辐照度探头的环形台(42),所述定位头(41)中部设有通孔(43),所述环形台(42)围绕在所述通孔(43)外周。

5.根据权利要求4所述的光辐照度测量除杂装置,其特征在于,所述通孔(43)的圆心和所述第一光阑(20)、第二光阑(30)的圆心在同一直线上。

6.根据权利要求4所述的光辐照度测量除杂装置,其特征在于,所述环形台(42)上间隔设有数个贯通所述环形台(42)、用于紧固件(45)穿设将所述辐照度探头固定在所述环形台(42)内的固定孔(44)。

7.根据权利要求1所述的光辐照度测量除杂装置,其特征在于,所述待测光源包括灯具。

8.根据权利要求1所述的光辐照度测量除杂装置,其特征在于,所述第一光阑(20)为旋转扇面的孔径可变光阑。

9.根据权利要求1所述的光辐照度测量除杂装置,其特征在于,所述安装筒体(10)为圆柱状筒体。

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