[实用新型]具有积累效应的场效应晶体管有效
申请号: | 201420160476.7 | 申请日: | 2014-03-31 |
公开(公告)号: | CN203787436U | 公开(公告)日: | 2014-08-20 |
发明(设计)人: | 关仕汉;李勇昌;彭顺刚;邹锋;王常毅 | 申请(专利权)人: | 桂林斯壮微电子有限责任公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06 |
代理公司: | 桂林市持衡专利商标事务所有限公司 45107 | 代理人: | 陈跃琳 |
地址: | 541004 广西壮族自*** | 国省代码: | 广西;45 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 积累 效应 场效应 晶体管 | ||
1.具有积累效应的场效应晶体管,包括场效应晶体管本体,其特征是,所述场效应晶体管本体主要由衬底层、n+层、外延层、硼离子区、氧化层、良导体、P-body区域、源区N+、P+区、金属塞、硼磷硅玻璃、金属薄膜和背金金属层组成;其中n+层位于衬底层的上方,外延层位于n+层的上方;外延层内开设有从外延层上部垂直延伸到外延层下部的沟槽,硼离子区设置在沟槽的底部外侧,氧化层附着在沟槽内侧的侧壁和底部上,良导体填充在附有氧化层的沟槽内;P-body区域置于外延层上方、沟槽的外侧;源区N+置于P-body区域的上方、沟槽的外侧;源区N+内开设有从源区N+上部垂直延伸到源区N+下部的接触孔,P+区设置在接触孔的底部外侧,在接触孔内填充金属塞;硼磷硅玻璃覆盖在源区N+和良导体的正上方;金属薄膜覆盖在金属塞和硼磷硅玻璃的正上方;背金金属层覆于衬底层的底部;良导体形成场效应晶体管本体的栅极,金属薄膜形成场效应晶体管本体的源极,背金金属层形成场效应晶体管本体的漏极。
2.根据权利要求1所述具有积累效应的场效应晶体管,其特征是,沟槽底部生长的氧化层的厚度厚于沟槽侧壁生长的氧化层的厚度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于桂林斯壮微电子有限责任公司,未经桂林斯壮微电子有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201420160476.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:碳酸钙废水处理工艺及系统
- 下一篇:一种水龙头高磁化多层水质净化装置
- 同类专利
- 专利分类