[实用新型]一种用于大型结构件机械性能检测的试验台有效

专利信息
申请号: 201420130887.1 申请日: 2014-03-24
公开(公告)号: CN203869724U 公开(公告)日: 2014-10-08
发明(设计)人: 路东辉;袁国艳;刘彦波 申请(专利权)人: 长春机械科学研究院有限公司
主分类号: G01D21/02 分类号: G01D21/02
代理公司: 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100 代理人: 魏征骥
地址: 130012 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 大型 结构件 机械性能 检测 试验台
【说明书】:

技术领域

本实用新型属于试验仪器领域,尤其是指一种用于大型结构件在多种工况下的应力、应变的机械性能检测试验台。

背景技术

国际热核聚变实验堆计划是国际大科学合作计划。本计划中涉及的一件待测试件为热核聚变实验堆中的重要结构件,名为:磁体重力支撑,该磁体重力支撑不仅承载着磁体系统的重量,还要满足核聚变反应堆的其它苛刻条件,如超导磁体冷却时的强热应力,放电时的各种电磁力以及抵抗地震负载等,通用的试验台不能满足对该测试件的性能检测的要求。

发明内容

本实用新型提供一种用于大型结构件机械性能检测的试验台,以解决磁体重力支撑没有专用检测试验台的问题。

本实用新型的技术方案是:铁地板分别与左侧前立柱、右侧前立柱、左侧后立柱、右侧后立柱固定连接,左侧立柱连接梁通过螺栓分别与左侧前立柱和左侧后立柱固定连接,右侧立柱连接梁通过螺栓分别与右侧前立柱和右侧后立柱固定连接,前侧上横梁分别与左侧前立柱和右侧前立柱上端固定连接,后侧上横梁分别与左侧后立柱和右侧后立柱上端固定连接,后横梁通过螺栓与左侧后立柱和右侧后立柱的后侧固定连接,X向油缸后销轴与X向油缸销轴承载套穿接,X向油缸销轴承载套与后横梁上的销孔穿接,X向油缸通过X向油缸后销轴和X向油缸销轴承载套与后横梁连接,X向油缸通过X向油缸前销轴和X向油缸球角座与上加载板连接,两个Y向油缸分别通过Y向油缸后销轴与Y向油缸销轴承载套连接,Y向油缸销轴承载套分别与右侧前立柱、右侧后立柱固定连接,Y向油缸分别通过Y向油缸前销轴和Y向油缸球角座连接到上加载板上,四个Z向油缸分别通过Z向油缸上销轴和Z向油缸销轴承载套连接到前侧上横梁、后侧上横梁上,Z向油缸上销轴与Z向油缸销轴承载套穿接, Z向油缸销轴承载套分别与前侧上横梁、后侧上横梁固定连接,Z向油缸分别通过Z向油缸下销轴和Z向油缸球角座连接到上加载板上,地脚螺栓与铁地板下方固定连接。

本实用新型的优点在于:结构新颖,可实现对被测试样的多维加载,并且在加载同时实现多点应力、应变的测量,可验证大型结构件在多维加载的情况下该结构件的机械性能是否满足设计要求。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图;

图2是图1右视图;

图3是图1的俯视图;

图4是本实用新型的结构示意图;

图中,试样1,铁地板2,左侧前立柱3,测量框架4, 地脚螺栓5, Y向油缸6, Y向油缸后销轴7,上加载板8, Z向油缸9,前侧上横梁10,Z向油缸下销轴11, Z向油缸球角座12, Z向油缸上销轴13, Z向油缸销轴承载套14,左侧立柱连接梁15,后横梁16, X向油缸前销轴17, X向油缸球角座18, X向油缸销轴承载套19, X向油缸后销轴20, X向油缸21, Y向油缸前销轴22, Y向油缸球角座23,右侧前立柱24,后侧上横梁25,左侧后立柱26,右侧后立柱27,右侧立柱连接梁28,Y向油缸销轴承载套29。

具体实施方式

铁地板分别与左侧前立柱、右侧前立柱、左侧后立柱、右侧后立柱固定连接,左侧立柱连接梁通过螺栓分别与左侧前立柱和左侧后立柱固定连接,右侧立柱连接梁通过螺栓分别与右侧前立柱和右侧后立柱固定连接,前侧上横梁分别与左侧前立柱和右侧前立柱上端固定连接,后侧上横梁分别与左侧后立柱和右侧后立柱上端固定连接,后横梁通过螺栓与左侧后立柱和右侧后立柱的后侧固定连接,X向油缸后销轴与X向油缸销轴承载套穿接,X向油缸销轴承载套与后横梁上的销孔穿接,X向油缸通过X向油缸后销轴和X向油缸销轴承载套与后横梁连接,X向油缸通过X向油缸前销轴和X向油缸球角座与上加载板连接,两个Y向油缸分别通过Y向油缸后销轴与Y向油缸销轴承载套连接,Y向油缸销轴承载套分别与右侧前立柱、右侧后立柱固定连接,Y向油缸分别通过Y向油缸前销轴和Y向油缸球角座连接到上加载板上,四个Z向油缸分别通过Z向油缸上销轴和Z向油缸销轴承载套连接到前侧上横梁、后侧上横梁上,Z向油缸上销轴与Z向油缸销轴承载套穿接, Z向油缸销轴承载套分别与前侧上横梁、后侧上横梁固定连接,Z向油缸分别通过Z向油缸下销轴和Z向油缸球角座连接到上加载板上,地脚螺栓与铁地板下方固定连接。

工作时,上加载板8通过螺栓连接到试样1上,测量框架4放置到铁地板上, 测量框架4用于测量试样1的变形。

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