[实用新型]可旋转试样的X射线衍射仪试样座

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种可旋转试样的X射线衍射仪试样座。 

背景技术

X射线衍射技术已广泛用于晶体结构分析、晶格常数计算，以及薄膜厚度测定、晶粒大小测量和宏观内应力测量等，成为物理学、化学、材料科学、地质以及生物学等许多领域必不可少的测量与分析手段。

一般的X射线衍射仪可以用来测量粉末样品与块状样品。对粉末样品进行测量时，需样品的粒径在5??m左右，样品的份量足够，将粉末试样填入玻璃试样片中，然后进行测量。对块状样品进行X射线衍射测量时，通常都是用橡皮泥将样品贴在铝制样品架上。如果是大尺寸试样，则直接放于X射线衍射仪的试样座上。上述试样放置方法必须使被测平面和X衍射仪的试样座的特定平面平行，从而产生准确的X射线衍射信号，获得准确的分析数据。

上述传统的试样放置方式都是静态的，在测量过程中试样静止不动。由于静态放置样品，测量的部位固定且区域相对局限，造成测量的误差；在进行钢铁材料的织构的测量，如测量材料的ODF图、反极图时，如果试样的晶粒尺寸太大，会造成大晶粒效应，从而造成测量误差。而消除和减小大晶粒效应的最有效途径，是在测量中使试样在被测平面内进行旋转。

发明内容

本实用新型的目的在于克服现有技术缺陷，提供一种可旋转试样的X射线衍射仪试样座。

本实用新型的技术方案是这样实现的：可旋转试样的X射线衍射仪试样座，主要由试样座基架、圆形支架、旋转电机、样品托盘组成，试样座基架内有水平的柱形槽，圆形支架垂直放置在柱形槽内且与柱形槽内壁紧密配合，旋转电机固定在圆形支架中心，旋转电机主轴与样品托盘底部中心相连，可带动样品托盘在垂直面自转。

优选的，顶升螺杆穿过试样座基架可顶住圆形支架上与旋转电机相对的另一面，使圆形支架在柱形槽内滑动。

优选的，旋转电机通过调速开关与电源相连。

优选的，样品托盘为带磁性的样品托盘。

本实用新型摆放试样方便牢固，通过调节顶升螺杆可使试样被测平面达到测量位置，能产生正确的X射线衍射峰，使测量数据准确；而且实现了试样在测量过程中的360°旋转，从而消除了由于样品大晶粒效应造成的测量误差。

附图说明

图1是本实用新型结构示意图。

图中，1-试样座基架；2-样品托盘；3-旋转电机；4-圆形支架；5-顶升螺杆；6-调速开关；7-试样。

具体实施方式

下面结合附图作进一步描述：

如图1所示，可旋转试样的X射线衍射仪试样座，主要由试样座基架1、圆形支架4、旋转电机3、样品托盘2组成，试样座基架1内有水平的柱形槽，圆形支架4垂直放置在柱形槽内且与柱形槽内壁紧密配合，旋转电机3固定在圆形支架4中心，旋转电机3主轴与样品托盘2底部中心相连，可带动样品托盘2在垂直面自转；顶升螺杆5穿过试样座基架1可顶住圆形支架4上与旋转电机3相对的另一面，使圆形支架4在柱形槽内滑动；旋转电机3通过调速开关6与电源相连；样品托盘2为带磁性的样品托盘，可加强对试样7的固定。

操作时，将试样7制备成合适尺寸，直接放于样品托盘2上，调节顶升螺杆5，将试样7被测平面调节到合适测量位置，控制调速开关6，调节转速至合适大小；完成X射线衍射仪的参数设置，在旋转状态下对试样进行织构测量。

本实用新型安装和操作过程简单，克服了常规静态试样放置对大晶粒尺寸试样测量织构时存在的困难，提高了X射线衍射分析的准确度。