[实用新型]一种斜探头检测试块

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种斜探头检测试块。

背景技术

斜探头超声波探伤仪斜探头进行斜射探伤用的探头，主要用于横波探伤。目前较常使用的斜探头用试块有CSK-IA、IIW等，但是随着数字探伤仪等新型仪器的广泛应用，单一的标准试块已经无法满足检测的需求。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种制作简单、成本较低，且可满足多种检测需求的斜探头检测试块。

为了到达上述目的，本实用新型采用的技术方案如下：

本实用新型的试块包括试块体、设置于试块体左侧的圆弧状阶梯面、设置于试块体上的阶梯孔、设置于试块体右侧的通孔以及设置于试块体底面的半圆形凹槽；所述圆弧状阶梯面为二阶阶梯面，其外侧圆弧面的半径与试块体的宽边长度相同，其内侧圆弧面的半径为试块体的宽边长度的50%~80%；所述阶梯孔为等高阶梯孔，其中心线到试块体左侧的距离为试块体长度的30~50%；所述通孔到试块体右侧的距离为试块体长度的10~30%；所述半圆形凹槽的半径为1~5mm。

进一步的，本实用新型所述试块体的长边长度是宽边长度的1.5~3倍，高度是宽边长度的30%~50%，所述试块体的宽边长度为100~150mm。

进一步的，本实用新型所述阶梯孔的内孔半径为2~5mm，外孔半径为5~10mm。

进一步的，本实用新型所述通孔的半径为1~3mm。

进一步的，本实用新型所述半圆形凹槽的数量为2个，分别位于距所述试块体右侧的1/3短边长度处和2/3短边长度处。

本实用新型的技术效果包括：

本实用新型的圆弧状阶梯面为二阶阶梯面，用于两点标准校正，在调整横波扫描速度和检测范围是降低了难度并有助于减少误差。试块体上设置的二阶阶梯孔可用于斜探头的远、近声场测定，提高分辨力，简化试块设置。试块体上的通孔用于斜探头角度的手动调节，由适于数字探伤仪进行无损检测时的使用，偏差小，结果准确。试块体上设置的凹槽增加了试块表面的缺陷，半圆形凹槽对超声波可以产生正反射，受超声波入射角度影响小，可以用于检测超声场声束纵向声压分布，弥补现有技术中无纵向声压分布检测试块的不足；同时凹槽位于试块表面，便于加工，并可实现对凹槽的精度及表面粗糙度精确控制。

附图说明

图1为实施例1的二阶试块的主视结构示意图。

在附图中，1试块体、2圆弧状阶梯面、2-1外侧圆弧面、2-2内侧圆弧面、3阶梯孔、4通孔、5半圆形凹槽、L1试块体长边、L2试块体短边、D试块体宽边。

具体实施方式      

实施例1

如附图1、2所示，本实用新型所述的二阶试块包括试块体1、设置于试块体1左侧的圆弧状阶梯面2、设置于试块体1上的阶梯孔3、设置于试块体1右侧的通孔4以及设置于试块体1底面的半圆形凹槽5。所述试块体1的长边L1长度是宽边D长度的1.5~3倍，高度是宽边D长度的30%~50%，所述试块体1的宽边D长度为100~150mm；所述试块体1的短边长度是试块体1长边L1长度与宽边D长度的差值。

本实用新型所述圆弧状阶梯面2为二阶阶梯面，其外侧圆弧面2-1的半径与试块体1的宽边D长度相同，其内侧圆弧面2-2的半径为试块体1的宽边D长度的50%~80%；其可用于两点标准校正，在调整横波扫描速度和检测范围是降低了难度并有助于减少误差。

本实用新型所述阶梯孔3为等高阶梯孔，其中心线到试块体1左侧的距离为试块体1长边L1长度的30~50%；所述阶梯孔3的内孔半径为2~5mm，外孔半径为5~10mm；其可用于斜探头的远、近声场测定，提高分辨力，简化试块设置。

本实用新型所述通孔4到试块体1右侧的距离为试块体1长度的10~30%；其半径为1~3mm；其用于斜探头角度的手动调节，由适于数字探伤仪进行无损检测时的使用，偏差小，结果准确。

本实用新型所述半圆形凹槽5的半径为1~5mm；共设置有2个，分别位于距所述试块体1右侧的1/3短边L2长度处和2/3短边L2长度处；其对超声波可以产生正反射，受超声波入射角度影响小，可以用于检测超声场声束纵向声压分布，弥补现有技术中无纵向声压分布检测试块的不足；同时凹槽位于试块表面，便于加工，并可实现对凹槽的精度及表面粗糙度精确控制。