[实用新型]LED光电性能相对标准的阵列评估测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种LED的光电性能相对标准的阵列评估测试系统。

背景技术

LED在出厂前需要进行很多性的测试，其中光学性能和电学性能是很重要的两个项目。

现有对LED的这两个项目的测试有两种方法，一种是单颗LED的方法，就是将单颗LED通过光谱仪或积分球测量后再根据标准样品进行修正测量；这种方法的缺陷是这种方法只能针对单颗封装后成品LED的测量,无法对批量LED生产封装前的光电性能进行测试评估。

二是LED的阵列测试方法，它适合于对批量LED生产封装前的光电性能的测试评估，这种方法大多采用LED阵列测试系统，该装置至少包括       测试控制单元、光参数测试模块、电参数测试模块和矩阵开关模块，矩阵开关模块与所述光参数测试模块和电参数测试模块电连接，所述测试控制单元控制光参数测试模块、电参数测试模块和矩阵开关模块协调工作，使用时将从产品中随机挑出来的用于被测的LED，排列成阵列结构的LED，然后将阵列结构的LED放在夹具上，所述测试控制单元控制矩阵开关模块分别点亮夹具上的其中几颗LED，这时，光参数测试模块和电参数测试模块分别测出这几颗LED光参数和电参数，并存储相应参数；然后，测试人员从阵列排布的LED上取下已被测试的几颗LED，再拿到光谱仪或积分球测量与样品进行对照测量，得到修正参数；测量人员再将修正参数输入给LED阵列测试系统，得出本批产品的相对光电参数值。

LED阵列测试系统只能测试阵列LED的光电参数，而不能同时进行相对标准的评估测试，无法满足生产中快速判定LED光电的性能要求。且这种测试系统使用超来比较繁锁，不方便操作人员快捷测试。

实用新型内容

     为了克服上述问题，本实用新型向社会提供一种不仅能测试阵列LED的光色电参数，而且还能同时进行相对标准的评估，且操作方便快捷的LED的光电性能相对标准的评估测试系统。

本实用新型的技术方案是：提供一种LED光电性能相对标准的阵列评估测试系统，包括测试系统主体、被测LED矩阵开关、采光机构和LED承载平台，其中，

所述测试系统主体用于测试被测LED的光电参数；

所述被测LED矩阵开关受控于所述测试系统主体，用于按顺序点亮承载平台的被测LED安装工位上的被测LED，同时，采集被点亮的被测LED的电学性能供测试系统主体测试电学参数；

所述采光机构用于采集被测LED的光信号，并将光信号传输给测试系统主体进行光色参数的测试；

还包括受控于所述测试系统主体的样品测试矩阵开关，以及在所述LED承载平台上还设有用于放置被测LED样品的样品安装工位，移动所述LED承载平台，所述测试系统主体分别对被测LED样品的光电参数和被测LED的光电参数进行测试；

作为对本实用新型的改进，还对测试的被测LED样品的光电参数和被测LED的光电参数进行存储，并依据被测LED样品的光电参数校正被测LED的光电参数。

作为对本实用新型的改进，还包括机台，所述测试系统主体设置在机台的一侧面上，所述采光机构设置在机台另一侧上方，所述被测LED矩阵开关的导电触点和样品测试矩阵开关的导电触点设置在采光机构的下方，被测LED安装工位和被测LED样品的样品安装工位设置在所述LED承载平台上，移动所述LED承载平台可以分别使被测LED样品的样品安装工位上的被测LED样品的连接脚与样品测试矩阵开关的导电触点电性连接；或者使被测LED的安装工位上的被测LED的连接脚与被测LED测试矩阵开关的导电触点电性连接。

作为对本实用新型的改进，所述LED承载平台包括长方形底板，在所述底板的长边两侧分别设有第一侧板和第二侧板，在所述长方形底板的一端短边侧设有第三侧板，所述被测LED安装工位设置在靠近第三侧板的长方形底板上，而所述被测LED样品的样品安装工位设置在远离第三侧板的长方形底板上。

作为对本实用新型的改进，在所述第一侧板和第二侧板的外侧面上分别设有滑条，用于与采光机构的外壳的相应部位滑动连接。

作为对本实用新型的改进，所述测试系统主体包括测试控制单元、光参数测试模块和电参数测试模块，其中，

所述光参数测试模块用于接收采光机构传输过来的光信号，对LED的光色参数进行测试；

所述电参数测试模块用于对LED的电学参数；

所述测试控制单元用于控制光参数测试模块、电参数测试模块、样品测试矩阵开关、被测LED测试矩阵开关和采光机构和协调工作。