[实用新型]检查设备和系统有效

专利信息
申请号: 201420096153.6 申请日: 2014-03-04
公开(公告)号: CN203929678U 公开(公告)日: 2014-11-05
发明(设计)人: 陈志强;张丽;杨戴天杙;黄清萍 申请(专利权)人: 清华大学;同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01N23/10 分类号: G01N23/10
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王波波
地址: 100084 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 检查 设备 系统
【权利要求书】:

1.一种检查设备,其特征在于,包括:

分布式射线源,包括多个源点,产生射线;

光源准直器,设置在分布式射线源的射线出束端,将所述分布式射线源产生的射线沿着扇形的径线汇聚,形成倒扇形射线束;

散射准直器,配置为仅允许射线与被检查物体的相互作用产生的具有一个或多个特定散射角的散射射线通过;

至少一个探测器,设置在所述散射准直器的下游,每个探测器包括多个探测单元,所述多个探测单元具备能量分辨能力并且基本上设置在柱面上,以接收通过所述散射准直器的散射射线;以及

处理装置,基于所述探测器输出的信号计算被检查物体的散射射线能谱信息。

2.如权利要求1所述的检查设备,其特征在于,所述处理装置还基于所述散射射线能谱信息中包含的峰位信息计算晶格常数,将计算的晶格常数与预定值进行比较来判断该被检查物体中是否包含爆炸物或者危险品。

3.如权利要求1所述的检查设备,其特征在于,还包括控制装置,根据输入的被检查物品中的感兴趣区域的位置信息控制所述分布式射线源中的特定源点产生射线,对所述感兴趣区域进行检查。

4.如权利要求1所述的检查设备,其特征在于,所述分布式光源的多个源点按照如下方式分布:圆弧、直线、U型、倒U型、L型或者倒L型。

5.如权利要求1所述的检查设备,其特征在于,所述散射准直器包括底面和底面上的多个嵌套的柱面,所述多个嵌套的柱面上相隔预定的距离开有圆形缝隙,并且所述底面上沿着柱面的轴向方向开有缝隙。

6.如权利要求1所述的检查设备,其特征在于,所述散射准直器包括底面和在底面上的多个嵌套的球面,所述多个嵌套的球面上相隔预定的距离开有圆形缝隙,并且所述底面上沿着底面的径线开有缝隙。

7.如权利要求1所述的检查设备,其特征在于,所述散射准直器由对射线吸收材料制成。

8.如权利要求1所述的检查设备,其特征在于,所述散射准直器具体为用射线吸收物质制作成多个列平行的共轴圆锥面。

9.如权利要求1所述的检查设备,其特征在于,所述散射准直器具体为多个平行的薄片。

10.如权利要求1所述的检查设备,其特征在于,所述探测器具体为CZT探测器或者HPGe探测器。

11.一种检查系统,其特征在于,包括:

承载机构,承载被检查物体直线运动;

第一扫描级,包括透射成像装置或者CT成像装置,对被检查物体进行透射检查或者CT检查;

处理装置,接收第一扫描级产生的信号,并且基于该信号确定被检查物体中的至少一个感兴趣区域,

第二扫描级,沿着物体运动方向与所述第一扫描级间隔预定的距离设置,所述第二扫描级包括:

分布式射线源,包括多个源点,产生射线;

光源准直器,设置在分布式射线源的射线出束端,将所述分布式射线源产生的射线沿着扇形的径线汇聚,形成倒扇形射线束;

散射准直器,配置为仅允许散射射线与被检查物体的相互作用产生的具有一个或多个特定散射角的散射射线通过;

探测器,设置在所述散射准直器的下游,包括多个探测单元,所述多个探测单元具备能量分辨能力,设置在柱面上并接收通过所述散射准直器的散射射线;

其中,所述处理装置指示所述第二扫描级针对所述至少一个感兴趣区域进行检查,并且基于所述探测器输出的信号计算被检查物体的散射射线能谱信息。

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