[实用新型]一种降低原子荧光光谱仪光谱干扰的装置

说明书

技术领域

 本实用新型涉及一种降低原子荧光光谱仪光谱干扰的装置，属于光谱干扰技术领域。

背景技术

原子荧光光谱分析是20世纪60年代中期提出并发展起来的光谱分析技术，是原子光谱法中的一个重要分支，它是原子吸收和原子发射光谱的综合和发展，是一种优良的痕量分析技术。

现有的原子荧光光谱仪主要用于Hg、As、Se、Te、Bi、Sb、Sn或其它元素的ppt级检测，其被广泛应用于环境保护、临床医学、农业、地质冶金、制药行业、石油化工等行业。原子荧光光谱法是利用原子荧光谱线的波长和强度进行物质的定性和定量分析方法，它的基本原理是原子蒸气吸收特征波长的光辐射后，原子被激发至高能级，然后回到基态时发射出一定波长的原子荧光，再依据荧光的强度分析所测元素的含量。

现有技术中，待测元素的激发光源发射的特征谱线照射到原子化器的炉腔内壁，由于光的漫反射作用，会有一部分光反射到信号接收器，这部分光被称为杂散光，杂散光的存在会造成原子荧光光谱仪的本底高，由于接收到的荧光信号不稳定，会导致光电检测器接收的荧光信号并非全部是某种元素原子蒸气吸收其特征波长的光辐射后产生的原子荧光，存在着其它波长的光谱干扰，造成分析结果误差。

实用新型内容

本实用新型提供了一种降低原子荧光光谱仪光谱干扰的装置，以解决现有的原子荧光光谱仪存在杂散光造成原子荧光光谱仪的本底高，并导致光电检测器接收的荧光信号存在其它波长的光谱干扰，造成分析结果误差的问题，为此本实用新型采用如下的技术方案：

一种降低原子荧光光谱仪光谱干扰的装置，包括激发光源、原子化器、光电检测器、第一光学设备、滤光片和第二光学设备，其中，激发光源通过第一光学设备照射到原子化器中，原子化器得到的荧光信号依次通过第二光学设备和滤光片照射到光电检测器，或者，原子化器得到的荧光信号依次通过滤光片和第二光学设备照射到光电检测器。

本实用新型实施方式提供的降低原子荧光光谱仪光谱干扰的装置结构简单，通过滤光片接收特定波长的谱线提供给光电检测器检测，减少了进入光电检测器的光谱干扰，降低了原子荧光光谱仪的本底，提供了荧光信号的稳定性，减少了光电检测器的分析结果误差。

附图说明

    为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型所述的一种降低原子荧光光谱仪光谱干扰的装置的第一结构示意图；

图2是本实用新型所述的一种降低原子荧光光谱仪光谱干扰的装置的第二结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型实施方式提供的一种降低原子荧光光谱仪光谱干扰的装置，如图1的第一结构示意图所示，包括激发光源1、原子化器2、光电检测器3、第一光学设备4、滤光片5和第二光学设备6，其中，激发光源1通过第一光学设备4照射到原子化器2中，原子化器2得到的荧光信号依次通过第二光学设备6和滤光片5照射到光电检测器3。

具体地，滤光片5可以包括至少一个带通滤波片或至少一个多带通滤波片，激发光源1和第一光学设备4配合使用，所述装置中至少包括一组所述激发光源1和第一光学设备4。其中，第一光学设备4和第二光学设备6是用于聚焦的光学设备，例如聚焦器等。

具体地，通过第一结构示意图中的降低原子荧光光谱仪光谱干扰的装置的工作方式为：将待测元素的激发光源1发射的特征谱线通过第一光学设备4聚焦后，照射到原子化器2中，以激发原子化器2氩氢焰中的待测原子，作为可选的，可以通过滤光片组旋转到原子化器相应光路的位置（带通滤光片位置不动）得到荧光信号，将得到荧光信号依次通过第二光学设备6进行聚焦以及滤光片5进行滤光后照射到光电检测器3进行检测。