[实用新型]一种平行片簧精密微动单元有效
申请号: | 201420085143.2 | 申请日: | 2014-02-26 |
公开(公告)号: | CN203798329U | 公开(公告)日: | 2014-08-27 |
发明(设计)人: | 王拴银;马浦毅;彭颖川 | 申请(专利权)人: | 江门市力泰科技有限公司 |
主分类号: | G01B21/02 | 分类号: | G01B21/02 |
代理公司: | 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411 | 代理人: | 黄冠华 |
地址: | 529030 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 平行 精密 微动 单元 | ||
技术领域
本实用新型涉及精密测量领域,特别是一种平行片簧精密微动单元。
背景技术
现有技术精密测量仪器采用轴套付结构进行微动尺寸传递检测,但制造工艺的精度要求高,运动精度难以保证。
实用新型内容
为了解决上述问题,本实用新型提供一种平行片簧精密微动单元,具体的技术方案如下:
平行片簧精密微动单元,包括测量定块、测量动块、平行片簧、驱动弹簧、测量合金块和限位柱,测量定块包括支撑部和加强部,加强部设置于支撑部的一端,且垂直于支撑部;测量动块包括受力部和传感器支撑部,传感器支撑部设置于受力部的一端,且垂直于受力部;支撑部和受力部平行设置,加强部和传感器支撑部平行设置;平行片簧设置于支撑部和受力部的端部,驱动弹簧和限位柱设置于加强部和传感器支撑部之间;测量合金块设置于传感器支撑部的自由端上。
平行片簧的数量为2,分别设置于支撑部和受力部的两端部。平行片簧垂直于支撑部的面上,沿长度方向的中间设有片簧压板一和片簧压板三;片簧压板一、平行片簧、片簧压板三采用螺钉固定连接。片簧压板一和片簧压板三的长度相当,且小于支撑部和受力部内侧面之间的距离。
本实用新型的平行片簧精密微动单元采用测量定块、测量动块和平行片簧配合,再通过测量合金块和传感器配合将测量动块的移动量显示出来,从而达到精密测量的目的,平行片簧精密微动单元制造工艺简单,运动精度高,稳定可靠。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型平行片簧精密微动单元的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
如图1所示,平行片簧精密微动单元是精密测量仪器中的一个部件,平行片簧精密微动单元包括测量定块1、测量动块2、片簧压板一3、平行片簧4、片簧压板二5、片簧压板三6、驱动弹簧7、测量合金块8和限位柱9。
测量定块1包括支撑部11和加强部12,支撑部11和加强部12互相垂直,加强部12设置于支撑部11的一端,使测量定块1呈不规范的T字形;测量动块2包括受力部21和传感器支撑部22,受力部21和传感器支撑部22互相垂直,传感器支撑部21设置于受力部21的一端,使测量动块2呈不规范的T字形。支撑部11的端部设有支撑柱111;受力部21上设有支撑柱211;支撑部11和受力部21平行设置,加强部12和传感器支撑部21平行设置。
驱动弹簧7设置于加强部12和传感器支撑部21之间,驱动弹簧7由加强部11支撑,并向传感器支撑部21提供一个恒定的测力。限位柱9设置于加强部12和传感器支撑部21之间,驱动弹簧7和限位柱9共同作用,确保加强部12和传感器支撑部21之间保持平行。
平行片簧4数量为2个,分别由支撑部11和受力部21的端部支撑,片簧压板二5与支撑部11和受力部21的端部配合,使平行片簧4固定于支撑部11和受力部21的端部。为了增加平行片簧4中部的刚度,提高运动精度,平行片簧4沿长度方向的中间设有片簧压板一3和片簧压板三6,片簧压板一3和片簧压板三6分别位于平行片簧的两个垂直于支撑部11的面上,并通过螺钉等方式固定连接。所述片簧压板一3和片簧压板三6的长度相当,且小于支撑部11和受力部21内侧面距离,使片簧压板一3与支撑部11和受力部21的端部之间留有一定的间隙。
精密测量仪器(未示出)设有机架和测量架子,偶数个平行片簧精密微动单元对称设置于机架上,即测量定块1设置于机架上,与平行片簧精密微动单元数量相同的测量架子设置于预定的位置,且与分别与测量动块2接触,确定参考尺寸,测量架子用于与被检测物接触,当测量架子与被检测物接触时,由于被测量物尺寸与参考尺寸不同,测量架子发生微量移动,从而使测量架子向受力部21施一定的力,受力部21将所获得的力传递给平行片簧4,从而使平行片簧4发生微量变形,而使测量动块2发生微量位移。
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