[实用新型]光谱磨样机试样夹持装置

权利要求书

1.一种光谱磨样机试样夹持装置，其特征在于：包括支架、调整套（3）和试样夹持器（5），所述支架包括底板（1）和垂直设于该底板（1）上的支杆（2），调整套（3）套装在支杆（2）上、并能沿支杆（2）上下移动和转动，试样夹持器（5）通过连接杆（4）与调整套（3）相连。

2.根据权利要求1所述的光谱磨样机试样夹持装置，其特征在于：所述试样夹持器（5）的下端面设有卡样槽（7），该卡样槽（7）与试样外形相匹配；在卡样槽（7）的底部设有磁铁（6），该磁铁（6）下端面到试样夹持器（5）的下端面之间的距离小于试样的高度。

3.根据权利要求2所述的光谱磨样机试样夹持装置，其特征在于：所述卡样槽（7）的槽壁还设有取样口（8）。

4.根据权利要求1或3所述的光谱磨样机试样夹持装置，其特征在于：所述支架还包括设于支杆（2）顶端的顶板（9），在顶板（9）和底板（1）之间至少设有两根支杆（2）。

5.根据权利要求4所述的光谱磨样机试样夹持装置，其特征在于：所述顶板（9）和底板（1）为三角形铁板，在三角形铁板上下对应的三个顶角处均设有一根支杆（2），调整套（3）套装在其中一根支杆（2）上。