[实用新型]电介物质介电系数微波测量探头及由其构成的测量装置有效
| 申请号： | 201420074952.3 | 申请日： | 2014-02-21 |
| 公开（公告）号： | CN203732632U | 公开（公告）日： | 2014-07-23 |
| 发明（设计）人： | 黄卡玛;陈倩;杨阳;刘长军;闫丽萍;赵翔;陈星;郭庆功;杨晓庆 | 申请（专利权）人： | 四川大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 成都科海专利事务有限责任公司 51202 | 代理人： | 吕建平 |
| 地址： | 610065 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 物质 系数 微波 测量 探头 构成 装置 | ||
1.一种电介物质介电系数微波测量探头，包括同轴结构的外导体（4）、内导体（2）及位于内外导体之间的绝缘介质（3），其特征在于，探头插入待测介电系数物质的测试终端为斜切口结构，另一端设计有使探头接入测量系统的同轴接口。
2.根据权利要求1所述的电介物质介电系数微波测量探头，其特征在于，所述绝缘介质为空气或固体绝缘介质。
3.根据权利要求2所述的电介物质介电系数微波测量探头，其特征在于，所述绝缘介质为聚四氟乙烯。
4.根据权利要求1或2或3所述的电介物质介电系数微波测量探头，其特征在于，所述斜切口的斜切角为20°～60°。
5.根据权利要求4所述的电介物质介电系数微波测量探头，其特征在于，所述外导体的外柱面为由不同直径柱面构成的阶梯结构。
6.根据权利要求5所述的电介物质介电系数微波测量探头，其特征在于，所述使探头接入测量系统的同轴接口为标准的“N”型接口。
7.权利要求1至6之一所述电介物质介电系数微波测量探头构成的测量装置，其特征在于，包括所述探头（5）和盛装待测介电系数物质的密闭金属容器，所述密闭金属容器由容器罐体（7）和容器罐盖（6）构成，容器罐盖上设计有与探头外导体相匹配的插入孔。
8.权利要求7所述用于物质介电系数微波测量装置，其特征在于，所述插入孔位于容器罐盖的中央。
9.权利要求8所述用于微波测量电介物质介电系数测量装置，其特征在于，位于容器罐盖中央的插入孔直径介于探头外导体构成阶梯外柱面的两外径之间。
10.权利要求7或8或9所述用于微波测量物质介电系数测量装置，其特征在于，所述容器罐体和容器罐盖通过螺纹盖配联接。
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