[实用新型]一种探针集成组件和检测设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及显示器技术领域，特别涉及一种探针集成组件和检测设备。

背景技术

在TFT-LCD（Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，薄膜晶体管液晶显示装置）行业中，阵列检测机通过电学检测方式完成阵列基板的检测，电学检测的信号加载方式通过探针插入的方式实现。

现有技术中，TFT-LCD检测时用于面板加载信号的系统包括探针集成装置，如图1和图2所示，其中，图1为现有技术中探针为垂直分布的探针集成装置结构示意图；图2为现有技术中探针为水平分布的探针集成装置结构示意图，探针集成装置包括：探针集成主体01和与探针集成主体01为一体结构的接触头011（水平接触头或垂直接触头），接触头011上设有多个探针0111，检测时，通过探针0111接触玻璃基板上每一个液晶面板旁设置的Shorting Pad（短路衬底）处以完成各种信号的加载。

液晶面板在检测时，不同型号的液晶面板需要根据产品设计的要求加载不同的信号，液晶面板上设置的短路衬底的位置和数目不同，导致使用的探针数目也不同，例如：有的使用4组信号，有的使用6组信号，此时由于现有技术中的探针集成装置中的探针数目是一定的，这就需要更换不同的探针集成装置来完成信号的加载；另外，为了最大限度提高玻璃基板的利用率，如图3和图4所示，其中，图3为现有技术中一种液晶面板分布示意图；图4为现有技术中的另一种液晶面板分布示意图，有的玻璃基板02上设置的多个液晶面板021为水平放置，有的玻璃基板02上设置的多个液晶面板021为垂直放置，这样，液晶面板设计的Shorting Pad022的方位也不同，此时由于现有技术中的探针集成装置中的探针接触头的方位是一定的，就需要更换不同的探针集成装置，使用对应的水平（如图1所示）或者垂直（如图2所示）的探针集成装置来完成信号的加载。

可见，现有技术中，在测试液晶面板时，对于不同Shorting Pad的分布结构，需要不断的更换不同的探针集成装置来完成信号的加载，且探针集成装置使用多次后，非常容易损坏，一个探针位置损坏时导致整个探针集成装置都无法使用。

实用新型内容

本实用新型提供了一种探针集成组件和检测设备，可实现对不同短路衬底的分布结构的液晶面板进行测试，便于更换和维修。

为达到上述目的，本实用新型提供以下技术方案：

本实用新型提供了一种探针集成组件，包括：至少一个探针，还包括：

探针集成主体；

与所述探针集成主体可拆卸连接的接头，所述接头上设有至少一个安装所述探针的安装孔。

本实用新型提供的探针集成组件，通过将探针、探针集成主体、接头设置为分体式结构，在使用时，探针的数目，接头的延伸方向都可以根据需要组装，实现了可对不同短路衬底的分布结构的液晶面板进行测试，便于更换和维修。

在一些可选的实施方式中，所述探针集成主体的一端设有信号传输接柱，所述接头包括至少一个水平接头，每一个所述水平接头设有信号传输接柱、与所述信号传输接柱相对设置的插口以及两个所述安装孔，其中，所述水平接头与所述探针集成主体、所述水平接头之间均通过所述信号传输接柱、所述插口串接。当待测基板上的Shorting Pad为水平分布时，可以将第一个水平接头的插口与探针集成主体的信号传输接柱插合，再根据需要将一个或多个水平接头与第一个水平接头串接起来，即将每一个水平接头的传输接柱与前一水平接头的插口连接起来，然后再将探针根据需要的个数和位置安装在安装孔内，测试时，探针集成主体上的信号可以通过信号传输接柱传输到每一个水平接头上，再传输到每一根探针上。

在一些可选的实施方式中，每一个所述水平接头具有长方体结构，且每一个所述水平接头的长度为5厘米～10厘米，宽度为3厘米～5厘米。

在一些可选的实施方式中，所述探针集成主体、每一个所述水平接头均设有具有螺纹孔的连接座，且所述水平接头与所述探针集成主体、所述水平接头之间通过所述连接座与螺栓或螺钉配合连接。由于水平接头自身存在重力，为了防止水平接头与探针集成主体或水平接头的连接处断开，在水平接头与探针集成主体或水平接头连接处增加连接座，并通过螺栓或螺钉连接，以提高连接处的稳定性。

在一些可选的实施方式中，每一个所述水平接头设有的插口均为圆柱体插口，所述探针集成主体设有的信号传输接柱和每一个所述水平接头设有的信号传输接柱均为圆柱体。