[实用新型]光刻机偏振照明系统光瞳偏振态测量装置有效

专利信息
申请号: 201420054625.1 申请日: 2014-01-28
公开(公告)号: CN203720528U 公开(公告)日: 2014-07-16
发明(设计)人: 蔡燕民;李中梁;步扬;王向朝;黄惠杰 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯
地址: 201800 上海*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 光刻 偏振 照明 系统 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种光刻机偏振照明系统光瞳偏振态测量装置,包括反射镜、针孔板、成像物镜、中继物镜、相位补偿板、1/4波片、1/2波片、沃拉斯顿棱镜、聚焦镜、像传感器,其特征在于光刻机照明系统的偏振光束入射到所述反射镜上,被反射到与照明系统光轴垂直的方向,投射到所述针孔板上,通过针孔的光束再经过所述成像物镜和所述中继物镜准直成平行光束,通过所述相位补偿板、所述1/4波片、所述1/2波片,投射到所述沃拉斯顿棱镜上,被所述沃拉斯顿棱镜分成2束光,经过所述聚焦镜投射到所述像传感器上,所述像传感器采用CCD相机。

2.如权利要求1所述的光刻机偏振照明系统光瞳偏振态测量装置,其特征在于,所述反射镜将偏振照明系统的汇聚到某一视场点的光束转折到所述针孔板的针孔位置,将所述光瞳偏振态测量装置整体置于一个XY移动平台上,通过所述XY移动平台的移动可以测量所有视场点的光瞳偏振态。

3.如权利要求1所述的光刻机偏振照明系统光瞳偏振态测量装置,其特征在于,所述针孔板的位置与掩模版图形面位置呈现镜像位置关系,通过所述针孔板上的针孔选定照明视场某个位置的照明光束进行偏振态测量,针孔板选择低热膨胀系数的熔石英材料,针孔图案由一层金属铬形成,针孔的直径一般为0.1mm~1mm。

4.如权利要求1所述的光刻机偏振照明系统光瞳偏振态测量装置,其特征在于,所述成像物镜和所述中继物镜将通过针孔的照明光束准直成平行光束,所述中继物镜将照明系统的光瞳成像在所述相位补偿板平面上。

5.如权利要求1所述的光刻机偏振照明系统光瞳偏振态测量装置,其特征在于,所述相位补偿板是一种组合相位补偿板,针对不同的照明设置有不同的组合配置,将不同的照明光瞳偏振态分布转化为X向线偏振或Y向线偏振。

6.如权利要求1所述的光刻机偏振照明系统光瞳偏振态测量装置,其特征在于,所述1/4波片和所述1/2波片对输入被测光束按照预定方式进行光强调制,根据波片不同的快轴位置,可以测量不同的斯托克斯参量。

7.如权利要求1所述的光刻机偏振照明系统光瞳偏振态测量装置,其特征在于,所述沃拉斯顿棱镜作为检偏器来使用,可以通过X向和Y向2束线偏振光。

8.如权利要求1所述的光刻机偏振照明系统光瞳偏振态测量装置,其特征在于,所述聚焦镜将所述沃拉斯顿棱镜输出的2束光汇聚到所述像传感器指定位置上。

9.如权利要求1所述的光刻机偏振照明系统光瞳偏振态测量装置,其特征在于,所述像传感器采用CCD相机,将其像素分成上下两部分,当作两仪探测器(或称为两单元探测器)来使用,分别接收所述聚焦镜输出的2束光。

10.如权利要求1所述的光刻机偏振照明系统光瞳偏振态测量装置,其特征在于,仅测量斯托克斯参量s1,用来监测光刻机照明光瞳偏振态的变化,当斯托克斯参量s1变化量超过一定量值时,则启动测试全部斯托克斯参量。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所,未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201420054625.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top