[实用新型]一种基于折射成像的高反光表面同轴光路检测系统有效

专利信息
申请号: 201420024410.5 申请日: 2014-01-15
公开(公告)号: CN203643359U 公开(公告)日: 2014-06-11
发明(设计)人: 赵治军;袁雷;曹晓娜;刘长鹤;刘鸿鹏 申请(专利权)人: 唐山英莱科技有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 063000 河北省唐山*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 折射 成像 反光 表面 同轴 检测 系统
【权利要求书】:

1.一种基于折射成像的高反光表面同轴光路检测系统,其特征在于:包括成像装置和与其连接的图像控制器,在所述成像装置一侧固定设置光源发生装置,在所述成像装置入光口竖直下方设置有三棱镜,所述光源发生装置射出的光线先经被检测板表面漫反射,再经三棱镜折射后进入所述成像装置,成像装置将成出的像传送给所述图像控制器,图像控制器将收到的像处理后得到高清的高反光板材表面检测图像。

2.根据权利要求1所述的一种基于折射成像的高反光表面同轴光路检测系统,其特征在于:所述成像装置为CCD相机或CMOS相机。

3.根据权利要求1所述的一种基于折射成像的高反光表面同轴光路检测系统,其特征在于:所述三棱镜顶部面和成像装置的光轴垂直。

4.根据权利要求3所述的一种基于折射成像的高反光表面同轴光路检测系统,其特征在于:所述三棱镜的顶角为30度~35度。

5.根据权利要求4所述的一种基于折射成像的高反光表面同轴光路检测系统,其特征在于:所述三棱镜的折射率为1.5。

6.根据权利要求1所述的一种基于折射成像的高反光表面同轴光路检测系统,其特征在于:所述光源为激光。

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