[实用新型]一种锥束CT系统探测器几何校正装置有效

专利信息
申请号: 201420006024.3 申请日: 2014-01-06
公开(公告)号: CN203763103U 公开(公告)日: 2014-08-13
发明(设计)人: 任秋实;周坤;李真;黄益星;吕江超;田涧;姜喆;杨昆 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;G06T11/00
代理公司: 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 代理人: 王岩
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 ct 系统 探测器 几何 校正 装置
【权利要求书】:

1.一种锥束CT系统探测器几何校正装置,其特征在于,所述校正装置包括:校正板(1)、探测器(4)、调节台(5)、X射线源装置(6)和X射线源台(7);其中,所述探测器(4)的探测面与底面垂直;所述校正板(1)为平板状,正面与背面平行,并且垂直于底面;所述调节台(5)包括调节装置和安装在调节装置上的水平的台面;所述X射线源台(7)和调节台分别位于两端,所述X射线源装置(6)位于X射线源台(7)上;所述探测器(4)的底面放置在调节台(5)的水平的台面上,校正板(1)位于X射线源装置(6)和探测器(4)之间放置在调节台(5)的台面上;所述校正板(1)上设置有多个通孔(2),形成通孔阵列,通孔(2)为圆形,每个通孔的尺寸相同,并且轴向平行。 

2.如权利要求1所述的校正装置,其特征在于,所述校正板的通孔阵列包括在中心的中心孔(201),并且包括互相垂直的且包含中心孔的主水平行(203)和主竖直列(202);所述中心孔(201)所在的行为主水平行,中心孔所在的列为主竖直列,主水平行和主竖直列互相垂直,主水平行和主竖直列的相交处为中心孔;所述主水平行(203)平行于底面(103),所述主竖直列(202)垂直于底面(103)。 

3.如权利要求1所述的校正装置,其特征在于,所述校正板(1)的厚度与通孔的直径成正比。 

4.如权利要求1所述的校正装置,其特征在于,所述校正板(1)的线性衰减系数与板的厚度成反比。 

5.如权利要求1所述的校正装置,其特征在于,所述调节台(5)沿三个互相垂直的轴线移动,并绕三个互相垂直的轴线转动。 

6.如权利要求1所述的校正装置,其特征在于,所述X射线源台(7)沿三个互相垂直的轴线移动,并绕三个互相垂直的轴线转动。 

7.如权利要求1所述的校正装置,其特征在于,进一步包括旋转台,所述旋转台位于调节台(5)和X射线源台(7)之间,所述旋转台包括底座(81)和台面(82)。 

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