[发明专利]液晶滴下量获取方法和液晶滴下设备

权利要求书

1.一种液晶滴下量获取方法，其特征在于，所述方法包括：

从液晶盒中选取第一预设数量的膜柱，得到第一膜柱集；

获取所述第一膜柱集中各个膜柱的原始高度，并计算得到所述第一膜柱集的平均原始高度；

从所述液晶盒中选取第二预设数量的主膜柱，得到第二主膜柱集；

分别获取所述第二主膜柱集中各个主膜柱的原始高度、液晶盒厚度、第一材料层厚度和第二材料层厚度，计算得到所述液晶盒的膜柱压缩率；

获取所述液晶盒的底面积、液晶盒中膜柱的总体积，并结合所述第一膜柱集的平均原始高度和膜柱压缩率确定所述液晶盒所需要的液晶滴下量，

其中，计算得到的膜柱压缩率还用于判断出所述液晶盒是否满足工艺要求。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，计算液晶盒的膜柱压缩率的步骤包括：

根据所述第二主膜柱集中各个主膜柱的原始高度，计算所述第二主膜柱集的平均原始高度；

根据所述液晶盒厚度、第一材料层厚度、第二材料层厚度和所述第二主膜柱集的平均原始高度，计算膜柱压缩量；

根据所述膜柱压缩量和第二主膜柱集的平均原始高度，计算所述膜柱压缩率。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，根据如下表达式计算所述膜柱压缩率：

a=h-(d-dc-da)h·100%]]>

其中，a表示膜柱压缩率，d表示液晶盒厚度，d_c和d_a分别表示第一材料层厚度和第二材料层厚度，h表示第二主膜柱集的平均原始高度。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，获取液晶盒中膜柱的总体积的步骤包括：

从所述液晶盒中选取预设位置处的主膜柱和辅膜柱，得到第一主膜柱和第一辅膜柱；

分别获取所述第一主膜柱和第一辅膜柱的原始高度、上表面半径和下表面半径，计算得到所述第一主膜柱的体积和第一辅膜柱的体积；

分别获取所述液晶盒中主膜柱和辅膜柱的分布密度，结合所述液晶盒的底面积、第一主膜柱的体积和第一辅膜柱的体积，分别确定液晶盒中主膜柱的总体积和辅膜柱的总体积，进而得到所述液晶盒中膜柱的总体积。