[发明专利]聚类分析方法、装置及设备

权利要求书

1.一种聚类分析方法，其特征在于，所述方法包括：

对于待聚合类中的第一类和第二类，计算所述第一类和所述第二类中两两样本之间的距离，所述两两样本中一个样本来自于所述第一类，另一个样本来自于所述第二类；

将得到的样本距离按照预定顺序进行排序，确定指定数目个样本距离，所述指定数目根据所述第一类或所述第二类的类内聚合度调整得到；

根据所述指定数目个样本距离，计算所述第一类和所述第二类的类间距离；

根据所述待聚合类中每两个类之间的类间距离，对所述待聚合类进行聚类。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述第一类和所述第二类的类间距离为平均距离时，所述根据所述指定数目个样本距离，应用如下公式，计算所述第一类和所述第二类的类间距离，包括：

Dk(Gp,Gq)=1KΣiKdki]]>

其中，G_p指代所述第一类，G_q指代所述第二类；K为常数，指代所述指定数目；i为变量，i∈[1,K]；dk_i指代所述指定数目个样本距离中第i个样本距离的大小；D_k(G_p,G_q)指代所述第一类和所述第二类的类间距离。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述第一类和所述第二类的类间距离为中值距离时，所述根据所述指定数目个样本距离，应用如下公式，计算所述第一类和所述第二类的类间距离，包括：

D_k(G_p,G_q)＝dk_k/2

其中，G_p指代所述第一类，G_q指代所述第二类；K为常数，指代所述指定数目；dk_k/2指代所述指定数目个样本距离中第K/2个样本距离的大小；D_k(G_p,G_q)指代所述第一类和所述第二类的类间距离。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定指定数目个样本距离之前，所述方法还包括：

根据所述第一类的样本数量和样本距离，计算所述第一类的类内聚合度；

根据所述类内聚合度，调整所述指定数目的大小。