[发明专利]一种工件光学测试机构

说明书

技术领域

本发明涉及一种工件的光线测试机构。

背景技术

对工件进行光学性能的检测通常需要在暗箱中进行，但人工向安置有检测设备的暗箱中入料和下料十分浪费时间，尤其是暗箱空间较小的情况下，不利于工件的摆放定位，尤其是圆形、圆柱形等不容易固定的工件，影响检测结果。

发明内容

一种工件光学测试机构，包括中空的暗箱，所述暗箱中设有光学测试装置，其特征是，还包括若干传送装置，所述暗箱设置在传送装置的传送方向上，至少有相对处于所述传送方向上游的一侧设置供工件通过的开口，并设有能够打开和封闭所述开口的活动门。

优选的，所述传送装置穿过暗箱设置，且所述活动门上开设容纳所述传送装置行进的缺口。

优选的，所述活动门上沿垂直于传送方向的方向设有多个适应不同位置传送装置通行的所述缺口。

优选的，所述暗箱相对处于所述传送方向上游和下游的两侧均设置所述开口和对应的所述活动门，暗箱中设置一气缸同时控制两扇所述活动门的打开和封闭。

优选的，所述传送装置穿过暗箱并偏向暗箱一侧设置，暗箱近于传送装置的一侧为第一侧面，所述活动门通过靠近和远离所述第一侧面进行打开和封闭，且活动门面向所述第一侧面的一侧开设容纳所述传送装置行进的缺口。

优选的，所述暗箱中设有限制所述活动门在气缸驱动下行进方向的限位机构。

优选的，所述限位机构包括平行于所述气缸轴线方向设置的导轨，以及设于活动门上与所述导轨配合的滑块。

优选的，所述传送装置上至少设有两个沿所述传送方向排列的分别用于支撑工件的放置治具。

本发明所达到的有益效果：

1.本发明的工件光学测试机构，包括中空的设有光学测试装置的暗箱，同时还结合了传送装置，使得传送装置可以直接将工件输入和输出暗箱进行上料检测和下料，大大提高检测效率，同时由传送装置运载的工件可以直接跟随传送装置到达暗箱中进行检测，无需在暗箱中另外设计定位座，免去了重新定位的麻烦，有助于提高检测精度。另外，暗箱上对应于工件的通过开口设置活动门可以自动及时开门放行和关门开始测试，也有助于提高检测效率和增加测量精度。

2.传送装置穿过暗箱设置，且活动门上开设容纳传送装置行进的缺口，则可以最大限度保证暗箱的遮光效果，提高测量精度。尤其是垂直于传送方向设有多个不同位置的传送装置时，分别设置对应的缺口。

3.暗箱相对处于传送方向上游和下游的两侧均设置开口和对应的活动门，则工件可以沿同一方向进入和退出暗箱，而需要从同一入口折返，简化结构，缩短相应工件的间隔检测时间，流水线工作更加顺畅。尤其是暗箱中设置一气缸同时控制两扇活动门的打开和封闭，则同步对上游的工件开放入口，和对一个下游相邻的且已经在暗箱中测试完毕的工件开放出口，则最为节约时间，提高效率。

4.缺口设置在活动门上，则活动门尺寸的设计受传送装置排布的影响相对较小，活动门可以设置的较大，方便工件的通过。同时传送装置偏向暗箱一侧设置，则缺口可以设置的较小，进一步减小从缝隙中射入暗箱的光线量。

5.暗箱中设置辅助气缸限的限位机构则可以提高制活动门开闭的稳定性，防止关闭时歪斜，保证密封性。

6.限位机构以导轨和滑块的配合结构实现，结构简单，性能稳定。

7.传送装置上设置至少两个用于支撑工件的放置治具，则在保持支撑稳定的基础上有利于节省治具数量。

附图说明

图1是本发明优选实施例的示意图；

图2是图1所示局部A的放大示意图；

图3是本发明优选实施例中暗箱的内部结构图；

图4是本发明优选实施例中放置治具的凹槽部位的俯视图；

其中：1、灯管，12、引脚，2、传送装置，22、链条，24、链轮，3、放置治具，32、底座，322、凹槽，42、暗箱，422、面板，424、第一侧面，44、色温计，45、限位机构，452、导轨，46、活动门，462、缺口，47、气缸，472、活塞，48、连接板，482、滑块，484、条形槽，486、限位件。

具体实施方式

下面结合附图对本发明作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案，而不能以此来限制本发明的保护范围。