[发明专利]一种反极性AlGaInP红光LED芯片的制备方法有效
申请号: | 201410845314.1 | 申请日: | 2014-12-31 |
公开(公告)号: | CN104518056A | 公开(公告)日: | 2015-04-15 |
发明(设计)人: | 盖克彬;陈康;申加兵;李晓明;徐现刚 | 申请(专利权)人: | 山东浪潮华光光电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 济南日新专利代理事务所 37224 | 代理人: | 王书刚 |
地址: | 261061 *** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 极性 algainp 红光 led 芯片 制备 方法 | ||
1.一种反极性AlGaInP红光LED芯片的制备方法,其特征是,包括如下步骤:
(1)将GaAs衬底发光二极管的晶片与硅片键合在一起,此时的GaAs衬底发光二极管的晶片已经蒸镀好P型金属电极,硅片的抛光面蒸镀有TiAu或PtAu膜,TiAu或PtAu膜上蒸镀有Sn膜;
(2)将键合后的晶片放入衬底腐蚀液中,腐蚀GaAs衬底5-10分钟,有大量气泡产生时,取出放入去离子水中,将晶片沿垂直方向转动180度,然后重新放入衬底腐蚀液继续腐蚀20-50分钟,将GaAs衬底完全腐蚀掉;
(3)待GaAs衬底腐蚀完成后,放入去离子水中,刮除晶片边缘残留的金属膜层;GaAs衬底腐蚀完成后,表面会留下一层阻挡层;
(4)冲洗干净晶片表面的药品及附着在上面的金属粉末;然后使用硫酸溶液对晶片表面的阻挡层进行腐蚀,1-3分钟后取出;
(5)阻挡层腐蚀完成后,在晶片的对版标记处贴上面积比套刻对版标记大的耐高温胶带条;
(6)然后进行N型金属电极的蒸镀,蒸镀完成后,用镊子将耐高温胶带条撕去,此时的N型金属电极的金属膜相当于掩蔽膜的作用,保护窗口区域以外不被腐蚀,露出待腐蚀的窗口区域,使用窗口腐蚀液腐蚀窗口,腐蚀完成后得到清晰的套刻对版标记图形。
2.根据权利要求1所述的反极性AlGaInP红光LED芯片的制备方法,其特征是,所述衬底腐蚀液为氨水与水体积比为1:5的混合液。
3.根据权利要求1所述的反极性AlGaInP红光LED芯片的制备方法,其特征是,所述硫酸溶液为体积比为1:10的硫酸水溶液。
4.根据权利要求1所述的反极性AlGaInP红光LED芯片的制备方法,其特征是,所述窗口腐蚀液为柠檬酸与水体积比为1:3的混合液。
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