[发明专利]电源线干扰测试系统的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子产品的测试设备与测试方法，特别涉及一种电子产品的电源线干扰测试系统与测试方法，能够进行自动化测试，以提高电源线干扰测试的效率和质量。

背景技术

为了确保电子产品能够稳定地运行，多半会进行电磁敏感性(Electromagnetic Susceptibility、EMS)的测试来确认电子产品抗电磁干扰的能力，其中，IEC 61000-4-11提供一种交流输入电压瞬时跌落(Voltage Dips)、短时中断(Interruption)及电压渐变(Voltage Variation)的抗扰度试验规范，简称为电源线干扰(Power Line Disturbance、PLD)测试。前述规范将电子产品的抗干扰能力区分为：无错误(Error Free)、无闩锁(Latch-up Free)、无损害(Damage Free)三个等级，且前述测试规范针对不同等级规定了相关的测试条件要求。

目前的电源供应器可以提供测试规范所需要的AC波型和测试条件给待测装置，却无法侦测待测电子产品所处的状态以及判断是否有错误发生。因此，现有的电源线干扰测试是以人工方式操作电源供应器输出特定波形给待测产品，并以人为观察的方式判断待测产品的状态，而且待测产品在测试过程中经常会有重新开机的现象，导致整体测试时间冗长，也造成测试人员将许多时间浪费在等待待测产品重新开机上。

发明内容

为了解决前述问题，本发明的目的在于提供一种电源线干扰测试系统与测试方法，能够自动化检查待测电子产品的状态和错误，实现自动化测试，以提高电源线干扰测试的效率和质量。

本发明提供一种电源线干扰测试系统，包含有：主机、连接于该主机的待测装置、以及电源供应器，该电源供应器连接于该主机并受主机的控制，且用于供电给该待测装置；其中，该待测装置能够在开机完成后与该主机建立联机，并且接收该主机的指示进行自我检查，再将检查结果回传给该主机。

由此，该主机能够通过电源供应器来提供电压瞬时跌落、电压渐变及短时中断等测试模式，从而验证待测装置的抗干扰能力，在待测装置发生错误而重新开机之后，待测装置会主动或被动地与主机建立联机而进行自我检查，并将检查结果回传给主机加以记录，进而实现自动化测试的技术效果。

此外，本发明还提供使用上述测试系统的电源线干扰测试方法，其步骤包含：步骤a)启动该主机，选择测试模式并等待测试延迟时间；步骤b)判断主机是否能够与该待测装置建立联机，若确认为是，则执行错误检查程序，反之若确认为否，则执行闩锁检查程序；其中，该错误检查程序是由该待测装置进行自我检查，并由该主机确认是否收到检查结果后加以记录；该闩锁检查程序会等待该待测装置重新开机，并在确认该待测装置重新开机成功或是确认该待测装置无法开机之后加以记录；最后执行步骤c)判断是否结束测试，若判断为否，则回到步骤a)，反之若判断为是，则结束。

因此，上述测试方法能够使主机判断待测装置是否正常或者顺利重新开机，并将结果加以记录，过程中不需要人力的参与，不会造成等待时间的浪费。

优选在上述步骤b)中执行该错误检查程序时，若主机未收到检查结果，则视为发生闩锁并加以记录，反之若主机收到检查结果，则记录所收到的检查结果。

优选在上述步骤b)中执行该闩锁检查程序时，若在等待时间内与该待测装置建立联机并收到该待测装置发送的开机成功通知，则视为重新开机成功；反之，该主机会在暂时中断该电源供应器的电力输出之后再恢复电力输出，重新等待该待测装置重新开机；一旦该主机收到该待测装置发送的开机成功通知时，会将该待测装置视为发生闩锁并加以记录，或是在该主机等待该待测装置重新开机的次数达到预定数量之后，将该待测装置视为产品损坏并加以记录。

附图说明

图1是本发明涉及的电源线干扰测试系统的架构图。

图2是本发明涉及的电源线干扰测试方法的流程图。

图3是图2中步骤S20错误检查的流程图。

图4是图2中步骤S30闩锁检查的流程图。

(符号说明)

H...主机

D...待测装置

P...电源供应器

具体实施方式

为进一步了解本发明，本发明提供以下较佳实施例并结合附图说明如下。